通用X射線熒光光譜儀Spectra-4000是進(jìn)口X射線熒光光譜儀廠家推出的性價(jià)比的XRF光譜儀品牌,是X射線熒光光譜儀品牌中X射線熒光光譜儀價(jià)格適中的XRF光譜儀器。

X射線熒光光譜儀Spectra-4000配有真空系統(tǒng)，擴(kuò)大了測試范圍，提高了檢測限，提高了數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。
X射線熒光光譜儀特點(diǎn)
具有更高能量分辨率的硅片檢測器提高了光元件的檢測限，比Si引腳檢測器高出100倍。測量范圍更廣，幾乎可以滿足所有常規(guī)材料的元素分析要求。
數(shù)據(jù)集成處理系統(tǒng)使數(shù)據(jù)采集速度更快，測量更穩(wěn)定，重復(fù)性好，長時(shí)間穩(wěn)定。
集成多個(gè)圖像計(jì)算機(jī)化方法的較新軟件使得數(shù)據(jù)測量更加準(zhǔn)確和穩(wěn)定。
軟件*監(jiān)控核心零件運(yùn)行，確保安全運(yùn)行。
專業(yè)真空系統(tǒng)提供更好的真空性能和出色的測試結(jié)果。

X射線熒光光譜儀Spectra-4000規(guī)格

可測元素：Na-U
元素含量：1ppm-99.99％
檢測限：1ppm
測量時(shí)間：60-200s（可調(diào)）
能量分辨率：129±5eV
X射線管大輸出電流：1mA
極限壓力：6.7×10-2 Pa
樣品室尺寸：610 * 320 * 100（mm）（無真空）/Φ100* h75（mm）（真空）
長期工作穩(wěn)定性（標(biāo)準(zhǔn)樣品）：±0.05％（高含量）/協(xié)調(diào)0.002％（微量）
優(yōu)異的重復(fù)性（標(biāo)準(zhǔn)樣品）：0.06％（（高含量）/協(xié)和0.0025％（微量）