光致發(fā)光熒光光譜儀是具有顯微光致發(fā)光掃描mapping功能的顯微光致發(fā)光光譜測(cè)量儀儀器,廣泛用于顯微/宏觀PL/RT PLE&EL,PL光致發(fā)光光譜測(cè)量成像。

光致發(fā)光熒光光譜儀測(cè)量功能
室溫顯微光致發(fā)光和光致發(fā)光掃描mapping
室溫顯微光致發(fā)光激發(fā)（吸收）
低溫顯微光致發(fā)光PL
室溫厚度測(cè)量
光致發(fā)光熒光光譜儀應(yīng)用
SiC結(jié)構(gòu)缺陷（如SFs堆垛層錯(cuò),TDs三角形缺陷）
半導(dǎo)體特性研究和測(cè)試（III-V材料）
GaN/ZnO LED晶圓表面分析（表面污染,表面不均勻,反射率和厚度測(cè)試）
NIR CCD傳感器研發(fā)
熱電偶器件研發(fā)
LED材料研發(fā)
TDIPL & IQE測(cè)試
III-V材料光致發(fā)光分析測(cè)試

光致發(fā)光熒光光譜儀規(guī)格參數(shù)
探測(cè)范圍：200-5000nm
系統(tǒng)分辨率：0.045nm@1200gr/mm光柵
CCD分辨率：0.08nm@1800gr/mm 光柵
空間分辨率：1um （其它分辨率可提供）
攝譜儀：1024x256像素格式，大95%QE,-100攝氏度TE制冷,暗電流0.0005e-/像素/秒
探測(cè)器：TE制冷高性能CCD/PMT/光電二極管
激光控制：0.1%~100%（多達(dá)6種激光功率水平）
激光激發(fā)：深紫外UV~近紅外NIR
樣品臺(tái)：XY掃描臺(tái)行程76mm x 52mm, 重復(fù)精度<1um,分辨率：0.1um
視圖系統(tǒng)：樣品成像，輸入光束定位監(jiān)測(cè)，大1600X數(shù)字圖像CCD相機(jī)IEEE1394接口
物鏡：光譜范圍200-1700nm, 10X,50x,100X
光斑大?。?lt;1um@100x物鏡