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目錄:孚光精儀(中國)有限公司>>光譜輻射測量系統(tǒng)>>光譜輻射計>> FPDONG-MAPLE-II光致發(fā)光熒光光譜儀

光致發(fā)光熒光光譜儀
  • 光致發(fā)光熒光光譜儀
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 FPDONG-MAPLE-II
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2024-12-04 16:30:07瀏覽次數(shù):687評價

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光致發(fā)光熒光光譜儀是具有顯微光致發(fā)光掃描mapping功能的顯微光致發(fā)光光譜測量儀儀器,廣泛用于顯微/宏觀PL/RT PLE&EL,PL光致發(fā)光光譜測量成像。

光致發(fā)光熒光光譜儀是具有顯微光致發(fā)光掃描mapping功能的顯微光致發(fā)光光譜測量儀儀器,廣泛用于顯微/宏觀PL/RT PLE&EL,PL光致發(fā)光光譜測量成像。

光致發(fā)光熒光光譜儀測量功能
室溫顯微光致發(fā)光和光致發(fā)光掃描mapping
室溫顯微光致發(fā)光激發(fā)(吸收)
低溫顯微光致發(fā)光PL
室溫厚度測量
光致發(fā)光熒光光譜儀應(yīng)用
SiC結(jié)構(gòu)缺陷(如SFs堆垛層錯,TDs三角形缺陷)
半導(dǎo)體特性研究和測試(III-V材料)
GaN/ZnO LED晶圓表面分析(表面污染,表面不均勻,反射率和厚度測試)
NIR CCD傳感器研發(fā)
熱電偶器件研發(fā)
LED材料研發(fā)
TDIPL & IQE測試
III-V材料光致發(fā)光分析測試
光致發(fā)光熒光光譜儀
光致發(fā)光熒光光譜儀規(guī)格參數(shù)
探測范圍:200-5000nm
系統(tǒng)分辨率:0.045nm@1200gr/mm光柵
CCD分辨率:0.08nm@1800gr/mm 光柵
空間分辨率:1um (其它分辨率可提供)
攝譜儀:1024x256像素格式,大95%QE,-100攝氏度TE制冷,暗電流0.0005e-/像素/秒
探測器:TE制冷高性能CCD/PMT/光電二極管
激光控制:0.1%~100%(多達(dá)6種激光功率水平)
激光激發(fā):深紫外UV~近紅外NIR
樣品臺:XY掃描臺行程76mm x 52mm, 重復(fù)精度<1um,分辨率:0.1um
視圖系統(tǒng):樣品成像,輸入光束定位監(jiān)測,大1600X數(shù)字圖像CCD相機(jī)IEEE1394接口
物鏡:光譜范圍200-1700nm, 10X,50x,100X
光斑大?。?lt;1um@100x物鏡

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