經(jīng)濟(jì)的兩線制技術(shù):
是差壓、浮子和浮筒式物位計(jì)的可靠替代品。
采用兩線制技術(shù)，有效的降低布線成本，且易于實(shí)現(xiàn)與現(xiàn)有系統(tǒng)的集成.
非接觸式測量
測量幾乎不受介質(zhì)特性影響.
通過數(shù)文引導(dǎo)式菜單輕松進(jìn)行現(xiàn)場操作.
通過Endress+Hauser的操作軟件便于進(jìn)行儀表調(diào)試、文件編制和故障診斷
頻率范圍采用K波段
支持HART 或PROFIBUS PA以及FF基金會(huì)現(xiàn)場總線協(xié)議.
耐高溫:
適用于過程溫度高達(dá)200 °C (392 °F)的測量場合
用于物位監(jiān)測(MIN, MAX) ，符合 IEC 61508/IEC 61511-1標(biāo)準(zhǔn)的要求，通過了SIL 2 認(rèn)證
選項(xiàng): 氣密性電纜入口，提高過程的安全性

E+H物位測量-雷達(dá)液位計(jì)應(yīng)用領(lǐng)域

Micropilot M可用于對(duì)液體、漿料、淤泥和固料進(jìn)行連續(xù)的非接觸式物位測量。測量不受介質(zhì)改變，溫度變化，氣層或蒸汽的影響。

FMR245 - 可用于溫度高達(dá)200 °C (392 °F)的測量場合，易于清洗。

訂購信息生產(chǎn)周期:
Endress+Hauser的標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)周期（從訂單輸入到發(fā)貨）是根據(jù)不同的Micropilot M FMR245規(guī)格來定義的.
請(qǐng)與您的來確認(rèn)此生產(chǎn)周期.
發(fā)貨方式:
Endress+Hauser會(huì)將貨物直接發(fā)送到您的收貨地址。如有特殊要求需要緊急處理，請(qǐng)?zhí)崆耙员銋f(xié)商解決.
訂單跟蹤:
如需查詢訂單執(zhí)行情況，請(qǐng)您的合同簽訂人.
備件訂購:
備品備件作為一個(gè)發(fā)貨期較短的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品訂購。特殊加急訂單需要額外收費(fèi).

測量原理	Level radar
Characteristic / Application	Highly resistant - easy to clean
Supply / Communication	2-wire (HART / PROFIBUS PA / FOUNDATION Fieldbus)
Frequency	K-Band (~ 26 GHz)
Accuracy	+/- 3 mm
Ambient temperature	-40 °C...+80 °C (-40 °F...+176 °F)
Process temperature	-40° C...+200° C (-40 °F...+392 °F)
Process pressure absolute / max. overpressure limit	Vacuum...16 bar (Vacuum...232 psi)
Main wetted parts	PTFE
Process connection	DN50...DN150
Process connection hygienic	Tri-Clamp ISO2852 DIN11851
Max. measurement distance	Standard: 40m (131ft) With additional option F (G): 60m (196ft)

Output	4...20 mA HART PROFIBUS PA FOUNDATION Fieldbus
Certificates / Approvals	ATEX, FM, CSA, IECEx, TIIS, NEPSI Overfill prevention WHG SIL EN 10204-3.1 Marine GL 3A, EHEDG
Application limits	Maximum measuring range is dependent on the tank form and/or application Ammoniacal gas phase FMR230 in stilling well Strong buildup formation FMR230 with air purge Small connections with low DK FMR231 Low DK and high nozzle FMR240 Custody transfer measurement FMR5xx

E+H物位測量-雷達(dá)液位計(jì)產(chǎn)品描述

連續(xù)的非接觸式物位測量儀表。

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