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詳細(xì)介紹
CH-1-S薄膜測(cè)厚儀/C H-1-SY壓敏膠粘帶測(cè)厚儀
一、 概述
MC022-CH-1-S型薄膜測(cè)厚儀適用于機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。 本測(cè)厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。
二、主要參數(shù)
1. 量程：0-1mm 分度值：0.001mm
2. 上測(cè)頭曲率半徑：15-50mm
3. 測(cè)頭對(duì)試樣施加負(fù)荷我：0.1-0.5N
4. 測(cè)量精度：100vm以內(nèi)＜1vm
100-250vm＜2vm
250vm＜3vm