寧波旗辰儀器有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第18年

18157413317

杭州愛華聲級(jí)計(jì)
工業(yè)環(huán)境噪聲測(cè)量 愛華校準(zhǔn)器 蜂鳴器測(cè)試儀 耳機(jī)測(cè)試儀 麥克風(fēng)測(cè)試儀 揚(yáng)聲器測(cè)試儀 接觸式送話器測(cè)試儀 聲學(xué)振動(dòng)分析儀 消音箱 建筑聲學(xué)測(cè)量系統(tǒng)AWA6290 新款A(yù)WA6228+愛華多功能聲級(jí)計(jì) 新款A(yù)WA5688愛華多功能聲級(jí)計(jì) ASV5910愛華防爆聲級(jí)計(jì) AWA5661精密脈沖聲級(jí)計(jì) AWA5680多功能聲級(jí)計(jì) AWA5636愛華聲級(jí)計(jì) AWA6228愛華多功能聲級(jí)計(jì)(環(huán)保專用) 聲級(jí)計(jì)和噪聲測(cè)量分析儀器 振動(dòng)測(cè)量?jī)x器 多通道噪聲振動(dòng)分析儀 環(huán)境噪聲自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng) 聲學(xué)校準(zhǔn)與測(cè)量?jī)x器 電聲校準(zhǔn)儀器
激光測(cè)平儀
硅鋼片鐵損測(cè)試儀
激光對(duì)中儀
影像測(cè)量?jī)x/投影儀
色差儀/標(biāo)準(zhǔn)光源箱/光澤度儀
Easy-Laser 連軸器對(duì)心儀
衡儀聲級(jí)計(jì)
粗糙度儀
奧地利英仕insize
紅聲HS聲級(jí)計(jì)
同惠電子測(cè)量?jī)x器
香港?,斅暭?jí)計(jì)
標(biāo)樣
黑白密度計(jì)
Mead米德快速鹵素水分測(cè)定儀
直讀光譜儀/RoSH檢測(cè)儀
漆包線檢測(cè)儀器
三坐測(cè)量機(jī)
X射線探傷機(jī)
天平/計(jì)價(jià)科/計(jì)數(shù)秤/計(jì)重秤/地磅
日本三豐量具 /三和牌量具
元素分析儀/碳硫分析儀/三元素分析儀
數(shù)顯氣動(dòng)量?jī)x/氣動(dòng)量?jī)x
測(cè)振儀
測(cè)厚儀
試驗(yàn)設(shè)備
硬度計(jì)
工業(yè)內(nèi)窺鏡
軸承加熱器
萬能材料試驗(yàn)機(jī)
激光測(cè)徑儀
動(dòng)平衡儀
指針推拉力計(jì)/數(shù)顯推拉力計(jì)/扭力測(cè)試儀
彈簧拉壓試驗(yàn)機(jī)/彈簧扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)
紅外線測(cè)溫儀
扭力板手
德國(guó)KK超聲波測(cè)厚儀/硬度計(jì)
氣體檢測(cè)儀
金相試驗(yàn)設(shè)備
日本電色/東京電色
超聲波探傷儀儀
聲級(jí)計(jì)/水分儀/頻閃儀/轉(zhuǎn)速表
溫濕度計(jì)/溫濕度表/溫度表
測(cè)距儀、 經(jīng)緯儀、全站儀
烘箱/放大鏡臺(tái)燈
材料燃燒(阻燃)檢測(cè)設(shè)備
漏水檢測(cè)設(shè)備
露點(diǎn)儀/轉(zhuǎn)速表
同心度測(cè)量?jī)x
傾角儀
在線檢測(cè)影像儀
色差儀
便攜式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
冠亞水分儀
金相顯微鏡
插頭/插座開關(guān)類檢測(cè)儀器
高斯計(jì)
鐵芯磁性參數(shù)測(cè)量?jī)x
磁通門磁強(qiáng)計(jì)
希瑪風(fēng)速計(jì)
奧氏體氧化物檢測(cè)儀
特斯拉計(jì)
極性筆
焊接檢驗(yàn)尺
其他配件
日本日置
三豐輪廓儀/三豐粗糙度儀
彩譜測(cè)色儀
霧度計(jì)系列
三豐儀器
光譜儀
怡信測(cè)量?jī)x
耐壓測(cè)試儀
切割機(jī)
鹽霧機(jī)
聲校準(zhǔn)器
分析儀
環(huán)境噪聲自動(dòng)監(jiān)測(cè)單元
聲強(qiáng)探頭
傳聲器
霧度計(jì)
光澤度儀
高配半自動(dòng)高清影像測(cè)量?jī)x
溫升檢測(cè)系統(tǒng)
自動(dòng)西林電橋
無線建筑聲學(xué)測(cè)量系統(tǒng)
納米壓痕測(cè)試儀
電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x
孔隙率測(cè)試儀
電阻溫度測(cè)定器
平行度垂直度測(cè)量?jī)x
涂鍍層測(cè)厚儀
四通道切換控制箱
聲暴露計(jì)
在線檢測(cè)設(shè)備
磨拋機(jī)
平面度測(cè)量?jī)x
激光測(cè)量系統(tǒng)
核輻射儀
多極磁環(huán)測(cè)量裝置
振動(dòng)測(cè)試儀
激光準(zhǔn)直儀
故障檢測(cè)儀
環(huán)境噪聲監(jiān)測(cè)儀
煙氣分析儀
輪廓儀
探傷儀
彎曲試驗(yàn)儀
無線廳堂擴(kuò)聲特性測(cè)量系統(tǒng)
手持式土壤分析儀
時(shí)代TH608圖像處理自動(dòng)布氏硬度測(cè)量系統(tǒng)
THVP-30數(shù)顯維氏硬度計(jì)
THVS-50數(shù)顯自動(dòng)磚塔維氏硬度計(jì)
時(shí)代TH320全洛氏硬度計(jì)
TH300洛氏硬度計(jì)
輪廓測(cè)量系統(tǒng)
激光儀器
電阻測(cè)試儀
電力電子測(cè)試設(shè)備
測(cè)高儀
聲品質(zhì)測(cè)量系統(tǒng)

2D、3D輪廓掃描儀原理

時(shí)間:2018/4/16閱讀:5258
分享:

2D、3D輪廓掃描儀原理

 

德國(guó)米銥激光輪廓儀原理

德國(guó)米銥激光輪廓掃描儀使用激光三角測(cè)量原理, 對(duì)不同被測(cè)物體表面進(jìn)行二維輪廓掃描。激光束被一組特定透鏡放大用以形成一條靜態(tài)激光線,投射到被測(cè)物表面上。高品質(zhì)的光學(xué)系統(tǒng)將該激光線的漫反射光,投射到高度敏感的
傳感器感光矩陣上。除了傳感器到被測(cè)物體的距離信息(Z軸),控制器還可以通過這組圖像來計(jì)算沿激光線(x軸)上的位置。傳感器zui終輸出一組二維坐標(biāo)值,坐標(biāo)系的原點(diǎn)與傳感器本身相對(duì)固定。通過移動(dòng)被測(cè)物體或傳感器,便可得出三維測(cè)量結(jié)果。

使用激光二極管發(fā)出的激光,在被測(cè)物體表面可以形成點(diǎn)狀光斑。采用特殊透鏡組使激光點(diǎn)擴(kuò)散到一條線上。傳統(tǒng)分光型激光傳感器采用圓柱型透鏡折射激光。這種傳統(tǒng)方法zui大的問題是沿著激光線的高斯光強(qiáng)分布所導(dǎo)致的非常弱的邊沿照度。德國(guó)米銥提供的scanCONTROL型輪廓傳感器采用的是精密楔形透鏡,可以排除激光線邊沿光強(qiáng)減弱的問題。

反射光 
測(cè)量時(shí),高度敏感的感光元件
CMOS矩陣可以接收從被測(cè)物體反射回來的光線,形成高精度輪廓影像。任何輪廓改變都會(huì)改變投射到被測(cè)物體表面的激光線的形狀,從而改變感光器件矩陣上的影像結(jié)果。如果移動(dòng)探頭或者被測(cè)物體,可以得到若干掃描線輪廓,將這些輪廓合成就可以行成3D影像結(jié)果。這個(gè)影像也被稱作“點(diǎn)云”,因?yàn)橛跋裼蓴?shù)千個(gè)獨(dú)立測(cè)量點(diǎn)所組成。

全面考慮
增加的一個(gè)測(cè)量維度,使輪廓掃描儀傳感器比其他類型
位移傳感器更加復(fù)雜。基本上講,不可以簡(jiǎn)單判斷一個(gè)被測(cè)物體是否可以被輪廓掃描儀傳感器測(cè)量。成功的測(cè)量往往取決于要取得哪個(gè)測(cè)量值以及在什么環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。因此測(cè)量是否可行需要從頭評(píng)估每一件被測(cè)物品。舉例來講,測(cè)量是否成功取決于有多長(zhǎng)時(shí)間可以用于測(cè)量。被測(cè)物體通過探頭光束的速度越慢,越多時(shí)間可以被用于測(cè)量。因此,不能簡(jiǎn)單的認(rèn)為一個(gè)靜態(tài)測(cè)量可行,就一定意味著動(dòng)態(tài)測(cè)量也是可行的。測(cè)量的結(jié)果也取決于被測(cè)物體表面的反光特性。也就是說被測(cè)物體表面的反光性或吸光性的強(qiáng)弱,會(huì)決定是否可以測(cè)得有效信號(hào)。被測(cè)材料本身也會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。舉例來講,如果半透明被測(cè)物體的透明度過高,測(cè)量信號(hào)可能*失真了。zui后一個(gè)應(yīng)該考慮的因素是被測(cè)物體的輪廓缺陷,可能產(chǎn)生陰影的輪廓以及多次反射的表面影響。以上這些基本因素都可能明顯影響測(cè)量信號(hào)質(zhì)量以及測(cè)量結(jié)果。

正確設(shè)置
除去上面提到的這些影響因素,一個(gè)清晰可識(shí)別的輪廓表面反射的持續(xù)信號(hào)仍然可能是難以使用的缺損信號(hào)。如果想避免這種情況,輪廓儀的每一個(gè)獨(dú)立參數(shù)都必須正確設(shè)置并適合被測(cè)物體。使用正確的
濾波器以及曝光時(shí)間的設(shè)定,往往能夠改善不良信號(hào),經(jīng)過不斷嘗試zui終可以完成測(cè)試。舉例來講,測(cè)量一個(gè)快速移動(dòng)的黑色橡膠被測(cè)物體,較短的曝光時(shí)間和被測(cè)物體的高吸光性都會(huì)更容易導(dǎo)致一個(gè)不良的測(cè)量結(jié)果。而與之相反,如果黑色被測(cè)物體不移動(dòng)或較慢移動(dòng),較長(zhǎng)的曝光時(shí)間可能更有助于獲得完整的輪廓信息。




 

 

會(huì)員登錄

×

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏!
標(biāo)簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
撥打電話
在線留言