德國徠卡 材料分析顯微鏡 DM6 M LIBS

德國徠卡 材料分析顯微鏡 DM6 M LIBS將目視檢驗和定性化學檢驗組合在一個工作步驟中，與使用傳統(tǒng) SEM/EDS 檢驗相比， 測定微觀結構成分的時間可節(jié)省 90%。集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)針對您在顯微鏡中看到的材料結構提供準確的化學元素圖譜。

我們認為有必要擴展我們的內(nèi)部分析方法。我們決定使用DM6 M LIBS 材料分析解決方案，是基于其多功能性和易用性。我們的目標是能夠輕松地進行光學檢查，地形表面評估，和定性分析。 這一儀器現(xiàn)已使用一年多，我們可以肯定地說，我們的期望得到了充分滿足。其多功能性和迅速的分析時間，使我們前期的投資得到回報。我們真的很滿意。

Hans-Ullrich Eckert, Development Manager Process Technology, GERWECK GMBH Oberfl?chentechnik, Bretten-G?lshausen (Germany)

實現(xiàn)快速精確材料分析的二合一系統(tǒng)

DM6 M LIBS 的集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)提供在顯微鏡圖像中所觀察微觀結構的化學成分。

識別感興趣的微觀結構成分，隨后只需單擊一下，即可觸發(fā) LIBS 分析。

優(yōu)勢概覽

與典型的電鏡方法*相比，節(jié)省 90% 的時間，而且

以可靠的目視和化學檢驗材料信息為基礎，快速做出自信的決策。

*可根據(jù)要求提供證明

使用 DM6 M LIBS 解決方案檢驗金屬界面，顯示在鋼 (上層) 表面有一層鉛 (下層)。

目視和化學材料檢驗二合一

用于目視和化學分析的二合一系統(tǒng)

1 秒即可獲得化學元素圖譜

無需樣品制備

完成！只需一次單擊，即可準確檢查通過目鏡或攝像頭觀察的物質，從而快速簡單的識別和解釋。操作員不需要額外的專業(yè)知識。

無需 SEM 樣品制備

為什么使用 DM6 M LIBS 解決方案進行材料分析能節(jié)省 90% 的時間？因為這種解決方案：

無需樣品制備和轉移；

無需系統(tǒng)調節(jié)；且

無需重新定位感興趣區(qū)域 (ROI)。

減少工作流程

將工作流程精簡至只有一個步驟，以結果為重點。

使用 DM6 M LIBS 解決方案的工作步驟比使用光電顯微鏡 (SEM) 進行分析精簡 3 倍。

迅速決定該做什么

將多種工具組合起來分析樣品的顯微結構成分，將在一秒鐘內(nèi)獲得所有信息，助您做出正確的決策。

在 90% 以上的情況下，用戶都能獲得足夠的數(shù)據(jù)，對下一步行動做出自信的決策 (例如，是否需要使用 SEM 進行更詳細的分析來確認污染源)。*

*基于用戶反饋

在 LIBS 檢驗中清晰辨別的鋁顆粒。

組件清潔度分析

DM6 M LIBS 二合一系統(tǒng)與 Cleanliness Expert 分析軟件相結合，讓您僅使用一臺儀器和一個工作流程即可對過濾器上的樣品進行目視和化學檢驗。

這樣可以更輕松地找到污染源。

做出自信的決策

通過快速獲取顆粒成分和結構的數(shù)據(jù)，您將得到在分析過程中更加迅速地做出自信決策的優(yōu)勢。

在清潔度分析過程中，過濾器上的污染顆粒通過 LIBS 被確認為鋼。

微觀結構成分的評估

DM6 M LIBS 二合一解決方案可助您執(zhí)行物相的結構和元素/化學分析，例如礦石、合金、陶瓷等。

無需進行樣品制備，也無需在 2 個或更多設備之間進行轉移。整個分析工作流程全部在一臺儀器上完成。

減少占用人力資源的樣品制備

減少占用人力資源的樣品制備和成本高昂的 SEM/EDS 分析，從而節(jié)省時間和資金。

硅酸鹽母巖中的含鐵相。

材料的深度剖面圖和層次分析

LIBS 的消融原理可被運用于材料的微型打孔。

微型打孔可應用于諸如：

深度剖面

層次分析

表面清潔。

在測定一種材料的成分是否隨著深入該材料其中的深度而改變時，深度剖面非常有用。

層次分析可用于查找一種材料中每一層的成分。比如多層鍍膜或噴漆的金屬，都屬于層狀材料。

利用表面清潔可以去除氧化物和污染。

標有直徑和深度的微型鉆孔示意圖 - 通過 LIBS 微型鉆孔的銅合金

LIBS：您的化學分析研究利器

DM6 M LIBS 解決方案運用激光誘導擊穿光譜 (LIBS)  使定性化學分析成為可能。

單擊即可觸發(fā)分析，激光將穿透樣品上的瞄準點。一個等離子體將會產(chǎn)生，然后分解。產(chǎn)生的特征光譜顯示材料中的元素的分布圖譜。

軟件將圖譜與已知的元素和化合物數(shù)據(jù)集進行對比，從而確定微觀結構的成分。數(shù)據(jù)集可以隨著用戶獲得的具體材料結果得到擴充。

1. 激光脈沖穿透材料表面；
2. 誘導出一個等離子體，然后該等離子體分解，發(fā)出光線；且
3. 特征原子譜線的光譜發(fā)射使元素得以被識別出來。

DM6 M LIBS 解決方案：顯微鏡的貢獻

在利用二合一解決方案實現(xiàn)快速的材料分析工作流程方面，顯微鏡也發(fā)揮了非常重要的作用。

DM6 M 復式顯微鏡可以：

在 1.25 倍至 100 倍的大物鏡變倍范圍進行觀察；

憑借多對比度技術，輕松看清色彩真實的材料細微結構；

根據(jù)需要隨時進行分析。

使用 LIBS 升級為二合一解決方案

抓住時機，為時未晚！

您是否已經(jīng)擁有一款我們的 DM6000 M 或 DM6 M 復式顯微鏡？

如果您已經(jīng)擁有，則可以充分利用這種選擇，使用 LIBS 系統(tǒng)進行改裝，以優(yōu)惠的價格得到二合一解決方案。