本文介紹了荷蘭安米德公司（Ankersmid）在顆粒粒度和粒形分析領(lǐng)域的一些進(jìn)展。第一部分首先介紹了時(shí)間轉(zhuǎn)換理論（TOT）及其在顆粒粒度分析上的應(yīng)用。同時(shí)也對(duì)這一技術(shù)的優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)進(jìn)行了總結(jié)。材料科學(xué)研究工作的發(fā)展及其數(shù)學(xué)建模使得廣大研究人員日益感覺(jué)到測(cè)量和了解顆粒粒形參數(shù)等信息的重要性。本文第二部分就討論了基于圖像的動(dòng)態(tài)粒形分析（DSA）并通過(guò)一個(gè)范例介紹了該方法對(duì)于科研工作的意義。

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