重慶環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

GJB環(huán)境應(yīng)力篩選中是否通電和進(jìn)行性能檢測要考慮這些因素

時(shí)間:2022-11-25 閱讀:1247
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   GJB環(huán)境應(yīng)力篩選主要是給產(chǎn)品施加固定的環(huán)境應(yīng)力,來發(fā)現(xiàn)和剔除產(chǎn)品在制造過程中存在的不良零件、元器件或設(shè)計(jì)工藝缺陷早期故障的一種篩選方式或方法。使用的應(yīng)力主要用于激發(fā)故障,而不是模擬使用環(huán)境,所以不必復(fù)現(xiàn)使用中遇到的環(huán)境。根據(jù)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),對(duì)于電子組件來說,溫度循環(huán)和隨機(jī)振動(dòng)兩種應(yīng)力在激發(fā)產(chǎn)品內(nèi)部缺陷方面特別有效。
 
  GJB環(huán)境應(yīng)力篩選中是否通電和進(jìn)行性能檢測一般考慮以下因素:
 ?。?)從提高篩選效果考慮,篩選過程中應(yīng)盡量通電并進(jìn)行性能檢測。通電篩選在析出缺陷方面要比不通電篩選更有效,通電會(huì)在產(chǎn)品中產(chǎn)生溫度梯度,可以析出那些不通電篩選時(shí)會(huì)漏過的缺陷。在篩選出的故障中,有50%左右的故障是在環(huán)境應(yīng)力下才能發(fā)現(xiàn)的間歇故障,需在篩選環(huán)境應(yīng)力作用下通過通電檢測才能找出來。
 
 ?。?)從可能性和經(jīng)濟(jì)性考慮,一般在高組裝級(jí)(單元或系統(tǒng)級(jí))進(jìn)行通電和檢測,低組裝級(jí)(印刷電路組件)不進(jìn)行通電和檢測,這是因?yàn)榈徒M裝級(jí)往往不具備檢測性能的條件,專門設(shè)計(jì)和制造一個(gè)檢測系統(tǒng)費(fèi)用太大。
 
 ?。?)在溫度循環(huán)中,降溫階段不應(yīng)通電,因?yàn)橥娛巩a(chǎn)品發(fā)熱,會(huì)影響產(chǎn)品溫度變化速率,在溫度循環(huán)篩選中,應(yīng)盡量增加性能檢測次數(shù),以便及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障和進(jìn)行修復(fù),節(jié)省篩選時(shí)間。
 
 ?。?)通電振動(dòng)篩選較合適的組裝等級(jí)是單元級(jí)。
 
 ?。?)通電、監(jiān)測的篩選比不通電篩選所需的費(fèi)用高。

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