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BeamScope-P8激光光束分析儀

狹縫掃描

波長范圍：  190-1100nm

            800-1800nm

            1.5-3.5um

分辨率   2um

最小光束  100um

掃描區(qū)域    5*7mm-Si

       3mm-Ge

       3mm-InGAS

結(jié)合二維運動臺    23*43mm

典型應用

à 激光/二極管激光表征

à 激光組件開發(fā)、對準、表征、生產(chǎn)測試和品控。

à 如下應用的激光器和激光器組件：

- 磁盤/晶圓表征

- 激光打印/打標

- 醫(yī)療激光

- 條形碼掃描儀等。

即時的：

à X-Y 輪廓測量

à 發(fā)散角

à 橢圓、質(zhì)心、高斯擬合

à 相對功率

特征：

à 光束尺寸 100um至 45 mm

à 分辨率 2um 或 范圍的0.5 %

à 190 nm 至 3.5um 可項

à M2 測量附件

à 符合 ISO 11146

à 適用于密閉空間的窄探頭

à 前置光闌

à 寬動態(tài)范圍

à 功能強大、直觀的軟件

à 升級選項，BeamScope-P7 至 USB 2.0

配件和選項

à M2 測量附件-USB 2.0

à UV - NIR 選項 190 至 3.5 µm

à 2-D 掃描平臺，用于 23 x 45 mm 輪廓分析

BeamScope-P8 系統(tǒng)包括：一個緊湊測頭、接口盒、一根3 m (10 ft.) USB 2.0 線纜、用戶手冊和適用于 Windows XP、Vista 或 Windows7 的軟件。

工作原理：線性掃描探頭帶有單個針孔、單個狹縫或正交 X-Y 狹縫。這種線性掃描滿足 ISO 11146 激光輪廓標準的嚴格要求。穿過狹縫的光落在硅（190 至 1150 nm）或鍺（800 至 1800 nm）探測器上。 [* 在推出 DataRay BeamScope 光束分析儀之前，沒有市售的狹縫掃描或刀刃掃描光束分析儀符合 ISO 11146 標準。該標準要求在與傳播軸正交的平面上進行掃描。鼓式掃描儀不符合標準。 DataRay *的線性掃描探頭的設計*符合標準。]

獲取狹窄區(qū)域的光束輪廓BeamScope-P8 使曾經(jīng)難以測量的光束輪廓的測量不僅成為可能，而且變得簡單。*的探頭式掃描頭可輕松觀察透鏡、反射鏡和濾光片之間狹窄的軸向間隙。它能夠探測窄至 12 毫米的沿軸空間，開創(chuàng)了一個全新的應用場景。

沒有來自光學元件或濾光片的光束失真

光束不會因輔助光學元件或濾光片而失真，因為 BeamScope-P8 在分析大多數(shù)類型的激光器時不需要它們。 AUTO GAIN 功能可以連續(xù)調(diào)整探測器放大器增益，以確保充分利用 55 dB (300,000:1) 增益范圍?？梢詮膯蝹€掃描頭測量 3um 到 23 mm 的光斑尺寸。結(jié)合新的 2-D 運動臺附件掃描高達 23 x 45 mm 的光束區(qū)域。

前置光闌

前置光闌使您能夠準確地看到光束被測量的位置。如果您可以靠近光源，快速發(fā)散和快速聚焦的光束很容易捕獲?，F(xiàn)在測量激光二極管陣列、微透鏡源、寬條紋激光器等比以往任何時候都更容易。可用的光闌可以在針孔孔徑上容納高達 100 W/mm² 的功率密度。 （最大總功率 = 0.5 W）在幾分鐘內(nèi)將孔徑從狹縫變?yōu)獒樋?。這賦予了 BeamScope-P8 成為光束分析儀中良好的價值。

帶 USB 2.0 的筆記本電腦便攜性

BeamScope 將接口插入您的筆記本電腦上的 USB 2.0 端口，以提供占用空間小的便攜式設備。

研發(fā)、品控和生產(chǎn)的良好選擇

研發(fā)用戶將感受全面的分析功能。 QA 和生產(chǎn)工程師會喜歡將測試配置保存為 JOB 文件并在屏幕上指示通過/失敗的功能。

良好的 M2 測量

BeamScopeTM P8 可選 M2DU-P8 附件不同于市場上的任何其他附件。沒有復雜的調(diào)整，但用戶可以實現(xiàn)高度可重復的測量。該軟件會自動在腰部區(qū)域進行更頻繁的測量，以準確確定真實的束腰直徑。

23 x 45 mm 2-D 掃描臺

DataRay 最新的光束分析創(chuàng)新技術(shù)可在高達 23 x 45 毫米的光束區(qū)域上提供非凡的 0.2%（512 x 512 像素）分辨率，小至 5 x 5um (HxV)。二維掃描結(jié)果顯示在用于區(qū)域圖像分析的集成成像軟件中。

注：

1. 2-D 和 3-D 輪廓是通過 X-Y 掃描“重建"的，假設測量的 X 光束輪廓對于所有 Y 值都相同，并且測量的 Y 光束輪廓對于所有值X都相同。

2. 在單縫或針孔模式下，縫/針孔寬度應小于等于被測光束直徑的1/3。對于傾斜±45° 的 X-Y 狹縫對，該比率約為 1/5。

3. 在刀刃模式下，狹縫寬度應大于等于光束直徑的 3 倍。對于以±45° 傾斜的 X-Y 狹縫對，該比率是不小于光束直徑的4.3 倍。

功率限制。該圖允許您簡單地確定 BeamScope 可以在沒有額外衰減的情況下測量的近似最大光功率。該限制是探測器電流限制。

PxS 是以瓦特為單位的功率限制。

計算激光波長的功率極限：

該圖顯示了直徑為 100 μm 的光束 (1/e2 ) 和 5 μm 狹縫的近似飽和光束功率（以 mW 為單位）與波長的關(guān)系。

1) 確定波長的標繪值 P_S mW。 （例如 633 nm 時為 70 mw）

2) 對于不同的狹縫或光束，將 P_S 乘以：0.05.(光束直徑，μm)/(狹縫寬度，μm)

3) 對于針孔，將 P_S 乘以0.05 x（光束直徑，μm）² /（針孔直徑μm）²