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BeamScope-P8激光光束分析儀

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品       牌DataRay/美國(guó)

廠商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商

所  在  地國(guó)外

更新時(shí)間:2021-12-15 16:18:44瀏覽次數(shù):1183次

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產(chǎn)地類(lèi)別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
BeamScope-P8激光光束分析儀
特點(diǎn):
適合光束: 3 m ~ 45 mm
分辨率: 0.5 m 或 0.5 %
波長(zhǎng)范圍190 nm ~ 4 ?m
M2 測(cè)量組件可選

BeamScope-P8激光光束分析儀

狹縫掃描

波長(zhǎng)范圍  190-1100nm

            800-1800nm

            1.5-3.5um

分辨率   2um

最小光束  100um

掃描區(qū)域    5*7mm-Si

       3mm-Ge

       3mm-InGAS

結(jié)合二維運(yùn)動(dòng)臺(tái)    23*43mm

典型應(yīng)用

à 激光/二極管激光表征

à 激光組件開(kāi)發(fā)、對(duì)準(zhǔn)、表征、生產(chǎn)測(cè)試和品控

à 如下應(yīng)用的激光器和激光器組件

- 磁盤(pán)/晶圓表征

- 激光打印/打標(biāo)

- 醫(yī)療激光

- 條形碼掃描儀等。

即時(shí)的:

à X-Y 輪廓測(cè)量

à 發(fā)散

à 橢圓、質(zhì)心、高斯擬合

à 相對(duì)功率

特征:

à 光束尺寸 100um 45 mm

à 分辨率 2um 或 范圍0.5 %

à 190 nm 至 3.5um 項(xiàng)

à M2 測(cè)量附件

à 符合 ISO 11146

à 適用于密閉空間的窄探頭

à 前置

à 寬動(dòng)態(tài)范圍

à 功能強(qiáng)大、直觀的軟件

à 升級(jí)選項(xiàng),BeamScope-P7 至 USB 2.0

配件和選項(xiàng)

à M2 測(cè)量附件-USB 2.0

à UV - NIR 選項(xiàng) 190 至 3.5 µm

à 2-D 掃描平臺(tái),用于 23 x 45 mm 輪廓分析

 

BeamScope-P8 系統(tǒng)包括:一個(gè)緊湊測(cè)頭、接口盒、一根3 m (10 ft.) USB 2.0 纜、用戶(hù)手冊(cè)和適用于 Windows XP、Vista 或 Windows7 的軟件。

工作原理:線性掃描探頭帶有單個(gè)針孔、單個(gè)狹縫或正交 X-Y 狹縫。這種線性掃描滿足 ISO 11146 激光輪廓標(biāo)準(zhǔn)的嚴(yán)格要求。穿過(guò)狹縫的光落在硅(190 至 1150 nm)或鍺(800 至 1800 nm)測(cè)器上。 [* 在推出 DataRay BeamScope 光束分析儀之前,沒(méi)有市售的狹縫掃描或刀刃掃描光束分析儀符合 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)要求在與傳播軸正交的平面上進(jìn)行掃描。鼓式掃描儀不符合標(biāo)準(zhǔn)。 DataRay *的線性掃描探頭的設(shè)計(jì)*符合標(biāo)準(zhǔn)。]

獲取狹窄區(qū)域的光束輪廓BeamScope-P8 使曾經(jīng)難以測(cè)量的光束輪廓的測(cè)量不僅成為可能,而且變得簡(jiǎn)單。*的探頭式掃描頭可輕松觀察透鏡、反射鏡和濾光片之間狹窄的軸向間隙。它能夠探測(cè)窄至 12 毫米的沿軸空間,開(kāi)創(chuàng)了一個(gè)全新的應(yīng)用場(chǎng)景

沒(méi)有來(lái)自光學(xué)元件或濾光片的光束失真

光束不會(huì)因輔助光學(xué)元件或濾光片而失真,因?yàn)?/span> BeamScope-P8 在分析大多數(shù)類(lèi)型的激光器時(shí)不需要它們。 AUTO GAIN 功能可以連續(xù)調(diào)整探測(cè)器放大器增益,以確保充分利用 55 dB (300,000:1) 增益范圍??梢詮膯蝹€(gè)掃描頭測(cè)量 3um 到 23 mm 的光斑尺寸。結(jié)合新的 2-D 運(yùn)動(dòng)臺(tái)附件掃描高達(dá) 23 x 45 mm 的光束區(qū)域。

前置光闌

前置光闌使您能夠準(zhǔn)確地看到光束被測(cè)量的位置。如果您可以靠近光源,快速發(fā)散和快速聚焦的光束很容易捕獲?,F(xiàn)在測(cè)量激光二極管陣列、微透鏡源、寬條紋激光器等比以往任何時(shí)候都更容易??捎玫?/span>光闌可以在孔徑上容納高達(dá) 100 W/mm2 的功率密度。 (最大總功率 = 0.5 W)在幾分鐘內(nèi)將孔徑從狹縫變?yōu)獒樋?。這賦予 BeamScope-P8 成為光束分析儀中良好的價(jià)值。

USB 2.0 的筆記本電腦便攜性

BeamScope 將接口插入您的筆記本電腦上的 USB 2.0 端口,以提供占用空間小的便攜式設(shè)備。

 

研發(fā)、品控和生產(chǎn)的良好選擇

研發(fā)用戶(hù)將感受全面的分析功能。 QA 和生產(chǎn)工程師會(huì)喜歡將測(cè)試配置保存為 JOB 文件并在屏幕上指示通過(guò)/失敗的功能。

良好 M2 測(cè)量

BeamScopeTM P8 可選 M2DU-P8 附件不同于市場(chǎng)上的任何其他附件。沒(méi)有復(fù)雜的調(diào)整,但用戶(hù)可以實(shí)現(xiàn)高度可重復(fù)的測(cè)量。該軟件會(huì)自動(dòng)在腰部區(qū)域進(jìn)行更頻繁的測(cè)量,以準(zhǔn)確確定真實(shí)的束腰直徑。

23 x 45 mm 2-D 掃描臺(tái)

DataRay 最新的光束分析創(chuàng)新技術(shù)可在高達(dá) 23 x 45 毫米的光束區(qū)域上提供非凡的 0.2%(512 x 512 像素)分辨率, 5 x 5um (HxV)。二維掃描結(jié)果顯示在用于區(qū)域圖像分析的集成成像軟件中。

光束范圍

P8產(chǎn)品規(guī)格 [如有更改,恕不另行通知.]

測(cè)得對(duì)象

CW 或脈沖激光 > 5kHz 脈沖重復(fù)率 @ 5% 占空比。 PRR越高越好。

測(cè)量光束功率

請(qǐng)參閱下面注釋中的圖表。 例如。 6 uW 至 3 W,對(duì)于 1 mm 直徑 (1/e2 ) 高斯光束 @ 633 nm,5um 狹縫。

光學(xué)動(dòng)態(tài)范圍

55 dB (= 300,000:1) [75 dB 使用中性密度 2.0衰減片]

最大掃描形狀

區(qū)域

針孔(PA系列)

狹縫(SS系列)

X-Y 狹縫(XY 系列)

二維運(yùn)動(dòng)臺(tái) (M2B)

重要提示:為了準(zhǔn)確測(cè)量,光束寬度應(yīng) < 0.5 x 掃描尺寸

使用 /EPH 擴(kuò)展探頭時(shí),以下 23 毫米的尺寸變?yōu)?35 毫米。

形狀   交叉掃描 x 掃描長(zhǎng)度

線掃描   針孔直徑 x 23 mm

矩形     7* x 23 毫米,(* 5 用于 Ge,3 用于 InAs)

梯形   5* x 15/5 mm,(* 3 用于 Ge,2 用于 InAs,3.5 x 13.5/6.5 用于 XYPl5)

矩形 45 x 23 毫米掃描區(qū)域圖像。 在該區(qū)域掃描針孔。

測(cè)量的光束直徑/寬度

100um 至 ~ 25 毫米。 定義為 1/e2 直徑,= 高斯光束峰值的 13.5%)

測(cè)量分辨率

2um 或測(cè)量光束直徑的 0.5 %,以較大者為選項(xiàng)

測(cè)量精度

±±2um或者測(cè)量光束直徑的 ±2%

測(cè)量的光束輪廓

X & Y

線性和對(duì)數(shù)輪廓顯示模式

測(cè)量的輪廓參數(shù)

高斯光束直徑

高斯擬合

二次力矩光束直徑

光束直徑

質(zhì)心相對(duì)和絕對(duì)位置,

橢圓度 + 主軸方向

光束漂移顯示  

顯示的配置文件

僅 X、僅 Y、X 和 Y

二維圖(10,16 或 256 色)重構(gòu)見(jiàn)注 1

3-D 繪圖(10,16 或 256 色)重構(gòu)見(jiàn)注 1

更新率

1 到 2Hz。 取決于 PC 處理器速度、掃描的配置文件和選定的選項(xiàng)

數(shù)據(jù)分析

通過(guò)/失敗

平均

標(biāo)準(zhǔn)差

在所有測(cè)量參數(shù)上,在屏幕上,以可選的通過(guò)/失敗顏色顯示 光束直徑運(yùn)行平均和累積平均選項(xiàng) 在累積平均屏幕上

功率測(cè)量

單位 mW、dBm、dB、% 或用戶(hù)輸入(相對(duì)于用戶(hù)提供的參考測(cè)量。)

源到狹縫距離

最小 1.0 毫米

孔徑大小

狹縫

針孔

重要提示:有關(guān)可測(cè)量的光束尺寸,請(qǐng)參見(jiàn)掃描區(qū)域(前述),請(qǐng)參見(jiàn)注釋 2 2.5、5、10、25 和 100um 寬 7 毫米長(zhǎng)

(5 um 狹縫的平面版為 5 毫米長(zhǎng))

5, 10, 25 和 50um 直徑(更大或更小的針孔,特殊訂單)見(jiàn)注 2

波長(zhǎng)范圍

硅探測(cè)器

鍺探測(cè)器

砷化鎵

190 to 1150 nm

800 to 1800 nm

1.5 to 3.5 µm

安裝

?-20 & M6 螺紋安裝孔

溫度范圍(包括附件)

操作

貯存

10oto 35

5 to 45

zhui低電腦要求 PC 或 Intel-Mac

USB2.0 端口,Windows XP、Vista 或 Windows 7; 1024 MB 內(nèi)存; 10 MB 硬盤(pán)空間; 1024 x 768 顯示器。

 

 

 

1. 2-D 和 3-D 輪廓是通過(guò) X-Y 掃描“重建"的,假設(shè)測(cè)量的 X 光束輪廓對(duì)于所有 Y 值都相同,并且測(cè)量的 Y 光束輪廓對(duì)于所有值X都相同

2. 在單縫或針孔模式下,縫/針孔寬度應(yīng)小于等于被測(cè)光束直徑的1/3。對(duì)于傾斜±45°  X-Y 狹縫對(duì),該比率約為 1/5。

3. 在刀刃模式下,狹縫寬度應(yīng)大于等于光束直徑的 3 倍。對(duì)于以±45° 傾斜的 X-Y 狹縫對(duì),該比率是不小于光束直徑的4.3 倍。

功率限制。該圖允許您簡(jiǎn)單地確定 BeamScope 可以在沒(méi)有額外衰減的情況下測(cè)量的近似最大光功率。該限制是探測(cè)器電流限制。

PxS 是以瓦特為單位的功率限制。

計(jì)算激光波長(zhǎng)的功率極限:

該圖顯示了直徑為 100 μm 的光束 (1/e2 ) 和 5 μm 狹縫的近似飽和光束功率(以 mW 為單位)與波長(zhǎng)的關(guān)系。

1) 確定波長(zhǎng)的標(biāo)繪值 PS mW。 (例如 633 nm 時(shí)為 70 mw)

2) 對(duì)于不同的狹縫或光束,將 PS 乘以:0.05.(光束直徑,μm)/(狹縫寬度,μm)

3) 對(duì)于針孔,將 PS 乘以0.05 x(光束直徑,μm)2 /(針孔直徑μm)2 


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