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初級(jí)會(huì)員 | 第20年

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BEX-8501-塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)裝置
  • BEX-8501-塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)裝置
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貨物所在地:浙江杭州市

更新時(shí)間:2024-11-11 21:00:07

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實(shí)驗(yàn)室/分析/測(cè)量
光測(cè)量設(shè)備
常規(guī)實(shí)驗(yàn)室儀器
環(huán)境顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀
氣溶膠發(fā)生器及稀釋/濃縮器
半導(dǎo)體加工及空氣過(guò)濾器測(cè)試系統(tǒng)
室內(nèi)空氣檢測(cè)儀
工業(yè)在線監(jiān)測(cè)儀器
環(huán)境顆粒及水質(zhì)采樣器
教學(xué)儀器
分光輻射度計(jì)
激光器
納米粒度分析儀
教學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器
激光加工系統(tǒng)
快速成型
激光配件
● 水平方向和垂直方向來(lái)觀測(cè)塞曼效應(yīng)
● 計(jì)算電子荷質(zhì)比的大小

實(shí)驗(yàn)簡(jiǎn)介

該實(shí)驗(yàn)裝置以汞燈的546.1nm 譜線為對(duì)象,研究塞曼效應(yīng)。汞燈發(fā)出的譜線經(jīng)過(guò)匯聚透鏡,將發(fā)散的光線適當(dāng)?shù)膮R聚,透過(guò)偏振片,經(jīng)過(guò)濾光片濾光后形成單色光,進(jìn)入F-P 標(biāo)準(zhǔn)具,形成干涉圓環(huán),zui后由鏡頭和CMOS 相機(jī)成像。該裝置包含一個(gè)可調(diào)恒流電源,通過(guò)調(diào)節(jié)電流控制磁場(chǎng)的大小。當(dāng)磁場(chǎng)足夠強(qiáng)時(shí),能級(jí)開(kāi)始分裂,產(chǎn)生不同的譜線,每一級(jí)干涉圓環(huán)分裂成多個(gè)干涉圓環(huán),由專(zhuān)業(yè)的軟件進(jìn)行圖像采集和數(shù)據(jù)分析,得到電子荷質(zhì)比e/m 的數(shù)值。
將電磁線圈旋轉(zhuǎn)90°,重新微調(diào)光路,可以平行于磁場(chǎng)方向觀測(cè)塞曼效應(yīng)。

 

儀器特點(diǎn)

  • 緊湊型設(shè)計(jì)
  • 采用電磁場(chǎng),可獲得0~1.2T的勻強(qiáng)磁場(chǎng), 并可以120o旋轉(zhuǎn)
  • 高達(dá)1/100λ的法布里-帕羅標(biāo)準(zhǔn)具
  • 可獲得K級(jí)至K-2級(jí)的9條分裂譜線
  • CE認(rèn)證

 

緊湊型設(shè)計(jì)
采用工業(yè)級(jí)高強(qiáng)度軌道,配合精巧的光機(jī)械設(shè)計(jì),比傳統(tǒng)的裝置至少減少了1/3的空間。

 

采用電磁場(chǎng),可獲得0~1.2T的勻強(qiáng)磁場(chǎng), 并可以120o旋轉(zhuǎn)
電磁線圈為整套裝置提供連續(xù)可調(diào)的0-1.2T的勻強(qiáng)磁場(chǎng),并有0-120o可旋轉(zhuǎn)結(jié)構(gòu),可以對(duì)橫向及縱向塞曼效應(yīng)現(xiàn)象進(jìn)行觀測(cè)。

 

高達(dá)1/100λ的法布里-帕羅標(biāo)準(zhǔn)具,可獲得K級(jí)至K-2級(jí)的9條分裂譜線
F-P標(biāo)準(zhǔn)具的性能保證了譜線分裂明顯,線條清晰銳利。

 

CE 安全認(rèn)證

 

典型實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及數(shù)據(jù)
1. 垂直于磁場(chǎng)方向觀測(cè)塞曼效應(yīng)(Л線 )

2. 平行于磁場(chǎng)方向觀測(cè)塞曼效應(yīng)(σ線)


3.根據(jù)K級(jí)至K-2級(jí)的9條分裂譜線,可驗(yàn)證荷質(zhì)比 e/m.
荷質(zhì)比 e/m 測(cè)量結(jié)果的相對(duì)誤差小于 5%。

 

技術(shù)參數(shù)

型號(hào)

部件

參數(shù)

BEM-5008

CMOS相機(jī)

尺寸1/3”,COMS Sensor,像素640×480,水平掃面線650tvl。通過(guò)USB2.0與電腦通信,實(shí)現(xiàn)USB直接供電,并能方便、快捷的數(shù)據(jù)采集需要

50mm定焦鏡頭

焦距50mm,相對(duì)孔徑1:1.4;

BEM-5405

聚光鏡

f=131.2mm

BEM-5403

干涉濾光片

中心波長(zhǎng)為546.1nm,孔徑為32mm,表面無(wú)污染,裂紋等;

BEM-5203

精密調(diào)節(jié)架

Φ45mm, 2D

BEM-5013

水平可調(diào)精密調(diào)節(jié)架

Φ45mm, Travel=36mm , 3D;

BEM-5402

F-P標(biāo)準(zhǔn)具

中心波長(zhǎng)為546.1nm,分裂條紋應(yīng)銳利清晰;

 

 

部件列表

描述

型號(hào)

數(shù)量

攝像單元(含鏡頭、CMOS相機(jī)), f=50mm, 兩百萬(wàn)像素

BEM-5008

1

法布里泊羅標(biāo)準(zhǔn)具, 546.1nm

BEM-5402

1

干涉濾光器, 546.1nm

BEM-5403

1

偏振器

BEM-5404

1

聚光鏡, f=131.2mm

BEM-5405

1

精密調(diào)節(jié)架, Φ45mm, 2D

BEM-5203

1

水平可調(diào)精密調(diào)節(jié)架, Φ45mm, Travel=36mm , 3D

BEM-5213

1

導(dǎo)軌,長(zhǎng)600mm

BEM-5201-06

1

托板,寬50mm

BEM-5204-50

3

升降調(diào)節(jié)架,可調(diào)范圍25mm

BEM-5205-25

3

連接桿,長(zhǎng)90mm

BEM-5209-09

3

筆形汞燈, 10A, 3W

BEM-5009

1

電磁線圈, 5A, 1.2T

BEM-5010

1

連接塊

BEM-5202

1

可調(diào)直流恒流源,  6A

BEM-5012

1

塞曼效應(yīng)軟件

BEM-5601

1

 

訂購(gòu)指引 

描述

型號(hào)

數(shù)量

塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)裝置

BEM-8501

1

不包含在上述列表中的*件

特斯拉計(jì),0-2000mT, 精度0.1mT

BEM-5032

1

電腦

 

1

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