1nm1納米掃描型雙光束紫外可見分光光度計

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分光光度計上海生產(chǎn)，雙光束，帶掃描功能，可連接電腦，付軟件，性能，*，性價比高，索求報價請來電

性能指標：

光學系統(tǒng)      雙光束1200線閃耀光柵

測光方式      透過率  吸光度   能量  反射率

波長范圍      190 nm～1100 nm

光譜帶寬      1nm/2nm

雜散光        ≤0.03%T （220nm NaI溶液）

波長準確度    ±0.3nm

波長重復性    0.1nm

光度范圍      －4 A～4 A

光度準確度    ±0.3%T（0～T）,±0.002Abs（0-0.5A）,±0.004Abs（0.5-1A）

光度重復性    0.001A（0-0.5A）,0.002A（0.5-1A）

穩(wěn)定性        ≤±0.0004A/h  

噪聲          ≤±0.0003A

基線平直度    ≤±0.001A

掃描方式      快中慢三檔可調(diào)

波長設置方式  任意設置

鍵盤          薄膜式按鍵

檢測器        硅光電池

光源          鎢燈氘燈

數(shù)據(jù)輸出方式  打印機或電腦儲存

電源          AC220V/50Hz或AC110V/60Hz

儀器功能： 

•光度測量：可同時測量1～6個波長處的透過率和吸光度. 

•光譜測量：在波長范圍內(nèi)進行透過率、吸光度、透射率、反射率和能量的圖譜掃描，并可進行各種數(shù)據(jù)處理如峰谷檢測、導數(shù)運算、譜圖運算等。 

•定量測量：單波長、雙波長、三波長和多波長測定。1～9點工作曲線（1～3次）回歸。

•動力學測定：在任意設定的波長處進行透過率和吸光度的時間掃描并可進行各種數(shù)據(jù)運算。 

•數(shù)據(jù)輸出：可進行數(shù)據(jù)文件和參數(shù)文件的存取，測量結果以標準通用的數(shù)據(jù)文件格式輸出。

UV1900系列紫外分光光度計軟件包是基于Windows環(huán)境下開發(fā)的UVCON控制軟件，可對主機進行全面控制。