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帶把階梯試塊

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更新時間:2015-08-23 20:01:28瀏覽次數(shù):865

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產(chǎn)品簡介

階梯試塊(帶把)該試塊具有不同深度的臺階形狀,主要用于測定20°探頭(直探頭)的距離幅度特性。

詳細介紹

該試塊具有不同深度的臺階形狀,主要用于測定20°探頭(直探頭)的距離幅度特性。

 

產(chǎn)品關鍵字:階梯試塊  帶把階梯試塊/TB/T2340-2000帶把階梯試塊

其它試塊:

 

CBI標準試塊(階梯:3-22mm)

CBII標準試塊(全套試塊共6塊)

CSI標準試塊(全套試塊分4塊)

 

奧氏體鍛件試塊(全套27塊,產(chǎn)品需來料加工,或者定料代加工)

CSK-IA超聲波檢測試塊

不銹鋼、鋁合金CSK-IA超聲波試塊

P91材料CSK-1A超聲波探傷試塊(來料加工)

CSK-IA試塊支架

CSK-IA超聲波試塊翻轉架

CSK-IIA試塊

CSK-IIIA超聲波檢測試塊

CSK-IIIA試塊翻轉架

不銹鋼、鋁合金CSK-IIIA超聲波試塊

P91材料超聲波檢測試塊

CSK-IVA超聲波試塊(全套共6塊,常規(guī)使用1-4號試塊)

T1試塊

T2試塊

T3試塊(分a、 b)

1#鋁及鋁合金對比試塊

2#鋁及鋁合金對比試塊

GS標準試塊(全套4塊)

測定儀器和探頭組合性能試塊(直徑5.6孔)

靈敏度校準試塊

橫向缺陷試塊

縱向缺陷試塊

CSK-IIAm試塊(提供探鋼板厚度)

 

CSII標準試塊(全套試塊分14塊)

 

 

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