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產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測(cè)試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動(dòng)式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報(bào)警儀/個(gè)人計(jì)量?jī)x 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測(cè)厚儀 退磁機(jī)/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評(píng)片燈 強(qiáng)度計(jì)/特斯拉計(jì)/高斯計(jì) 數(shù)顯黑白密度計(jì)/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 熒光探傷燈 高強(qiáng)度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測(cè)試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機(jī)、干片機(jī) 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
A1型磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
簡(jiǎn) 介：
A型靈敏度試片zui先由日本無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出，以后為多個(gè)國(guó)家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對(duì)幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過(guò)程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。
特點(diǎn)：
試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡(jiǎn)便。對(duì)各類(lèi)零件所有方向的磁場(chǎng)，尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí)，表現(xiàn)其*的優(yōu)點(diǎn)。
性能規(guī)格：
A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1、A2；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對(duì)應(yīng)。本試片為A1（15/50μ）標(biāo)準(zhǔn)試片。相當(dāng)于A1型試片中2# （30/100μ）標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D；適用于中靈敏度探傷，其中括號(hào)中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為（微米），D為工件直徑。
本套試片包括：
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成
使用方法：
1、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件，用膠帶紙緊密地貼上，保證試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣，不能覆蓋試片背面的刻槽部位。
2、進(jìn)行外加懸場(chǎng)法，對(duì)工件進(jìn)行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，即是磁化電流）。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。
注意事項(xiàng)：
1、試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，保證試片與被檢面接觸良好。
2、試片用后請(qǐng)涂防銹油。
3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用
產(chǎn)品關(guān)鍵字：A1磁粉試片 A1磁粉標(biāo)準(zhǔn)探傷試片，
相關(guān)*：A2型磁粉探傷試片
相關(guān)產(chǎn)品：
YM-D型 滲透試塊（不銹鋼條紋試塊） YM-B5型 滲透試塊（不銹鋼五點(diǎn)試塊）
YM-B3型 滲透試塊（不銹鋼三點(diǎn)試塊） C型 磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
A型 磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片 E型 交流標(biāo)準(zhǔn)試塊（3孔試塊）
標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1、A2；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對(duì)應(yīng)。本試片為A1 （15/50μ）標(biāo)準(zhǔn)試片。相當(dāng)于A1型試片中2# （30/100μ）標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D；適用于中靈敏度探傷，其中括號(hào)中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為（微米），D為工件直徑。
本套試片包括：
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
共六片不同規(guī)格的試片組成 （3種規(guī)格分別兩片）
使用方法：
1、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件，用膠帶紙緊密地貼上，保證試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣，不能覆蓋試片背面的刻槽部位。
2、進(jìn)行外加懸場(chǎng)法，對(duì)工件進(jìn)行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，即是磁化電流）。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。
注意事項(xiàng)：
1、試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，保證試片與被檢面接觸良好。
2、試片用后請(qǐng)涂防銹油。
3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。
本套試片包括：
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
共六片不同規(guī)格的試片組成 （3種規(guī)格分別兩片）
使用方法：
1、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件，用膠帶紙緊密地貼上，保證試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣，不能覆蓋試片背面的刻槽部位。
2、進(jìn)行外加懸場(chǎng)法，對(duì)工件進(jìn)行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，即是磁化電流）。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。
注意事項(xiàng)：
1、試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，保證試片與被檢面接觸良好。
2、試片用后請(qǐng)涂防銹油。
3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。
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