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IIW試塊(V-1試塊)也叫荷蘭試塊。是由焊接學(xué)會(huì)(IIW)通過(guò)，標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)*使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊。材質(zhì)：不銹鋼、鋁合金
產(chǎn)品分類品牌分類
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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測(cè)試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動(dòng)式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報(bào)警儀/個(gè)人計(jì)量?jī)x 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測(cè)厚儀 退磁機(jī)/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評(píng)片燈 強(qiáng)度計(jì)/特斯拉計(jì)/高斯計(jì) 數(shù)顯黑白密度計(jì)/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 熒光探傷燈 高強(qiáng)度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測(cè)試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機(jī)、干片機(jī) 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
V-1荷蘭試塊
超聲波檢測(cè)試塊報(bào)告
| 名稱 | 標(biāo)準(zhǔn)試塊 | 型號(hào)規(guī)格 | IIW-V1 | 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | ISO2400- 1972E | |
| 材質(zhì) | 20號(hào)鋼 | 毛坯種類 | 鍛打件 | 熱處理狀態(tài) | 正火處理 | |
| 序號(hào) | 檢驗(yàn)項(xiàng)目 | 檢驗(yàn)要求 | 實(shí)測(cè)情況 | |||
| 1 | 本體材料化學(xué)成分 | 主要化學(xué)成分應(yīng)符合GB699（優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼鋼號(hào)和一般技術(shù)條件）抽檢 | 合格 | |||
| 2 | 本體材料晶粒度 | 本體材料經(jīng)正火處理后，晶粒度應(yīng)達(dá)到7級(jí)以上（抽檢） | 合格 | |||
| 3 | 本體材料內(nèi)部缺陷 | 使用5MHZ直探頭，對(duì)試塊進(jìn)行接觸法超聲波探傷，不得出現(xiàn)大于對(duì)比試塊DB-PZ2-2平底孔回波幅度1/4的缺陷回波。 | 合格 | |||
| 4 | 折射角刻度偏差 | 使用2.5MHZ、折射角為45度的斜探頭檢測(cè)時(shí)，不得超出+-2度 | 合格 | |||
| 5 | 有機(jī)玻璃鑲嵌縱波傳播時(shí)間 | 常溫下，有機(jī)玻璃23mm厚度縱波傳播時(shí)間相當(dāng)于20（45）號(hào)鋼50mm厚度的縱波 | 合格 | |||
| 6 | R100圓弧面中心位置偏差 | 使用2.5MHZT 5MHZ的斜探頭檢測(cè)時(shí)，不得超出+-1.5dB | 合格 | |||
| 7 | R100圓弧面回波幅度偏差 | 使用2.5MHZ和5MHZ的斜探頭檢測(cè)時(shí)，不得超出+-1.5dB | 合格 | |||
| 8 | 外觀及表面粗糙度 | 外觀光滑無(wú)明顯劃傷、碰傷、銹蝕等缺陷，鳥(niǎo)面粗糙度談側(cè)面不得低于Ra3.2，其余Ra6.3 | 合格 | |||
| 9 | 幾何尺寸、形位公差 | 尺寸、公差+-0.1 | 合格 | |||
備注：本產(chǎn)品由上海越磁電子科技有限公司現(xiàn)貨供應(yīng)，產(chǎn)品需含檢測(cè)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)試塊 IS02400-1972E
IIW試塊（V-1試塊）也叫荷蘭試塊。是由焊接學(xué)會(huì)（IIW）通過(guò)，標(biāo)準(zhǔn)化組織（ISO）*使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊。材質(zhì)：不銹鋼、鋁合金
使用要點(diǎn)：
1、 利用試塊厚
2、 利用Φ50和圓弧和Φ1.5通孔測(cè)定斜探頭折射角及縱波直探頭的靈敏度余量；還可粗略估計(jì)直探頭的盲區(qū)大小及測(cè)定儀器與探頭組合后的穿透能力
3、 利用R100mm圓弧面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和盲區(qū)，并可校正時(shí)間軸比例和零點(diǎn)。
4、 利用測(cè)距為85mm、91mm和100mm三個(gè)槽口平面可測(cè)定直探頭的縱向分辨力
5、 利用試塊的直角棱邊測(cè)定斜探頭聲束偏斜角