會(huì)員.png)
5
當(dāng)前位置：北京理加聯(lián)合科技有限公司>>技術(shù)文章>>造成ASD光譜儀分析的干涉圖能量低的原因是什么
造成ASD光譜儀分析的干涉圖能量低的原因是什么
ASD光譜儀分析簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)就是用來(lái)分解成分比較復(fù)雜的光譜線的一個(gè)儀器，它的組成部分就是有棱鏡或衍射光柵等構(gòu)成的，然后利用光譜儀可以測(cè)量需要被測(cè)量的物體表面反射的光線。
ASD光譜儀分析是一種非常快速的分析方法，數(shù)據(jù)采集時(shí)間相對(duì)較短，一般情況下僅需要幾秒鐘即可得到一條光譜。并且不需要使用有機(jī)溶劑，同時(shí)樣品制備步驟較短或無(wú)需制備。
ASD光譜儀分析的干涉圖能量低，導(dǎo)致信噪比不理想。
可能原因：
1.光路準(zhǔn)直未調(diào)節(jié)好或非智能紅外附件位置未調(diào)整到正確位置；
2.紅外光源已損壞或能量已衰竭
3.檢測(cè)器已損壞或MCT檢測(cè)器無(wú)液氮；
4.分束器損壞；
5.各種紅外反射鏡或紅外附件的鏡面太臟；
6.光闌孔徑太小或信號(hào)增益倍數(shù)太小；
7.圓光路中有衰減器。
解決方法：
1.啟動(dòng)光路自動(dòng)準(zhǔn)直程序，如果正在使用非智能紅外附件，則還需要人工準(zhǔn)直；
2.更換紅外光源；
3.請(qǐng)維修工程師檢查，必要時(shí)更換檢測(cè)器(檢測(cè)器損壞很有可能是由于受潮引起，因此更換后應(yīng)注意保持儀器室的干燥，對(duì)于MCT檢測(cè)器可添加液氮再重新檢查；
4.請(qǐng)維修工程師檢查，必要時(shí)更換分束器(分束器損壞很可能是由于受潮引起或更換時(shí)碰撞產(chǎn)生裂痕引起，更換后應(yīng)注意保持儀器室的干燥，從儀器上取出或裝入時(shí)一定要小心)；
5.請(qǐng)維修工程師清洗；
6.重新設(shè)置光闌孔徑或信號(hào)增益倍數(shù)，使之處于適當(dāng)值；
7.取下光路中的衰減器。