線性IC參數(shù)分選測試儀 返回列表頁

ICT3198 線性IC參數(shù)分選測試儀，IST3198線性IC參數(shù)分選測試儀是繼ICT3100數(shù)字IC品質(zhì)分選測試儀之后向國內(nèi)外市場推出的又一新品。它融合了國內(nèi)外同類產(chǎn)品的諸多優(yōu)點并有所創(chuàng)新。是一種智能化程度*的新一代線性集成電路測試儀。它可對通常使用的單運放及多運放 、比較器等進行快速測試。
IST3198是繼ICT3100數(shù)字IC品質(zhì)分選測試儀之后向
國內(nèi)外市場推出的又一新品。它融合了國內(nèi)外同類產(chǎn)品的諸多優(yōu)點并有所創(chuàng)新。是一種智
能化程度*的新一代線性集成電路測試儀。它可對通常使用的單運放及多運放 、比較器
等進行快速測試。 
它具備以下特點：
1．根據(jù)IC型號自動切換測試，無需人工轉(zhuǎn)接線更換測試盒。
2．具有自校準功能，測試參數(shù)基準穩(wěn)定。
3．測試參數(shù)值讀取快潔、直觀。
4．測試操作簡單。
5．它可以對線性IC的11項交直流參數(shù)進行測試及功能測試。
6．提供自適應(yīng)測試方式：以樣片為基準，對同型號IC 進行篩選測試進行快速篩選。

主要技術(shù)指標

    3．1 額定工作條件及規(guī)格：         
          整 機 功  耗：          35W
          電        源：          220V/AC  50HZ
          使用環(huán)境溫度：          5─35
          相 對 濕  度：          45%RH
          重        量：          5.5kg     
          外界電磁干擾：          避免   

序 號 測    試  參  數(shù)  單 位 誤 差 1    失調(diào)電壓            Vio mV <5% 
2    失調(diào)電流            Iio nA <5%  3    偏置電流            Iib nA <5% 
4    靜態(tài)功耗            Pd mW <5%  5      開環(huán)增益            Avd db <5% 
6    共模抑制比          Kcmr db <5%  7    輸入電阻            Rid KΩ  <10% 
8    輸出電阻            Ros Ω <10%  9    增益帶寬積          Gbw KH <5% 
10    電源電壓抑制比    Ksvr db <5%  11    輸出電壓峰--峰值    Vopp V <5% 
12    壓擺率              Sr V/us <10%  3．3
測試內(nèi)容說明
靜態(tài)工耗是在測試電壓為± 8V下測得（個別特殊比較器在+12V/-6V下測得）。 
·對于自適應(yīng)測試，比較誤差小于5%
·失調(diào)電壓測量范圍：100uV─100mV Vos  超過 100mV 時， 認為功能失效；
|Vos| 在2mV─100mV之間，相對誤差<3%；|Vos| 在0.1─2mV之間，相對誤差<6%失調(diào)電
流。
·偏置電流測量范圍：Ios，Ib >10nA時 相對誤差<3%；Ios，Ib<10nA相對誤差<8%；Ios；
Ib<0.5nA，相對誤差較大。
·靜態(tài)功耗測量范圍：0.3─180mW、Pd>10mW，相對誤差 <3%
·輸出電阻測量范圍：25─2.5k，分辨率為5Ω   
·輸入電阻測量范圍：20KΩ─15MΩ，分辨率KΩ   
·輸入電阻高于15M的芯片不測此項參數(shù)，若“錯敲”鍵入型號，如測LF347 而入     
“342”（LM324），所測的輸入電阻是不真實的。
·壓擺率為擴充測試項。