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傅立葉變換紅外技術(shù)是
一種強(qiáng)大的粘合劑分析方法
圖1：Bruker VERTEX 80 FTIR光譜儀，右側(cè)有紫外線照射源，樣品倉中有可加熱的ATR附件；
圖1所示為VERTEX80光譜儀，樣品倉中帶有可加熱ATR附件，外部紫外線源的光纖通過ATR附件上的可調(diào)支架固定。另外，Bruker的鉑金ATR，即單次反射的金剛石ATR，它也可以用于測(cè)試遠(yuǎn)紅外范圍。
圖2：紫外輻照Bruker VERTEX 80 FTIR光譜儀，光源位于右側(cè)，樣品倉內(nèi)透射附件；
除ATR技術(shù)外，透射技術(shù)也可作為分析工具。Bruker光學(xué)透射附件A043-N/Q，其帶有水平樣品支架，如圖2所示。樣品支架的高度可以調(diào)整，紫外線光纖支架的高度也可以調(diào)整。
OPUS光譜學(xué)軟件用于數(shù)據(jù)采集，附加軟件包OPUS/3D用于數(shù)據(jù)可視化和數(shù)據(jù)評(píng)估。圖3顯示了OPUS軟件中用于顯示時(shí)間分辨測(cè)量數(shù)據(jù)的3D圖。
圖3：OPUS光譜學(xué)軟件中時(shí)間分辨快速掃描測(cè)量結(jié)果。左上角區(qū)域顯示了FTIR光譜在反應(yīng)時(shí)間過程中的變化，如3D圖所示。右上角的區(qū)域顯示了FTIR光譜中C-O和C-H鍵的峰值高度與時(shí)間的關(guān)系，用于監(jiān)控反應(yīng)速率。右下角區(qū)域顯示了FTIR光譜圖。
圖4：C=C雙鍵處的C-O-C基團(tuán)（綠色曲線）以及C-H基團(tuán)（粉色曲線）的強(qiáng)度隨時(shí)間的變化
圖5：快速掃描測(cè)量FTIR光譜
圖6：Platinum ATR附件中的單片金剛石
示例2：失效分析
膠水的質(zhì)量不過關(guān)通常會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品意外失效。因此，在粘合劑質(zhì)量控制中，失效分析具有很大的挑戰(zhàn)性。
圖7：左：固化粘合劑的譜（藍(lán)）和顆粒污染物的譜（紅）；右：在粘合劑層的可視顯微圖像上疊加的化學(xué)圖像。
圖8：Bruker LUMOS II 顯微紅外光譜儀
總而言之，布魯克的傅立葉變換紅外設(shè)備非常適用于分析各種粘合劑。在本文中，我們展示了如何找出潛在缺陷和研究紫外線（UV）固化動(dòng)力學(xué)。借助我們易用的技術(shù)和創(chuàng)新軟件，您必定能夠強(qiáng)化與客戶的“粘接"。