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首頁 >> 技術(shù)文章 >> rifs技術(shù)用于分子間互作分析
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反射干涉頻譜法 rifs (Reflectometric Interference Spectroscopy)是讓白光照射在具有光學(xué)厚度的薄膜上,光線在反射過程中會發(fā)生干涉,檢測樣品與膜上的分子結(jié)合后會使光學(xué)厚度發(fā)生改變,從而使反射光的波長發(fā)生相應(yīng)的改變,通過檢測反射光的峰位的改變情況,來反映分子間的相互作用情況。該方法可用于功能性高分子的評估等領(lǐng)域,同時還可對動態(tài)反應(yīng)進行無標記,實時觀測。
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