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新產(chǎn)品 X射線熒光光譜儀 用于ROHS、金屬、合金成分元素分析

時間:2014/2/10閱讀:2091
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X射線 熒光光譜儀系列,用于Rosh,合金成分,鍍層厚度,貴金屬等檢測和分析

 

型號

產(chǎn)品

EDX 8800E

    真空型能量色散X熒光光譜儀 元素分析儀:

元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)

元素含量分析范圍為1ppm99.99

zui低檢出限:1ppm

測量時間:60-200(可調)

儀器工作電源:AC220±5V

EDX P2000

手持式合金分析儀不銹鋼檢測.銅合金檢測.礦元素成份分析
激發(fā)源:50kV/200uA銀靶端窗一體化微型X光管

濾波器:四種濾波器組合,能夠自動調節(jié)

六芯大容量鋰電池,可連續(xù)工作8小時,自帶Windows  6嵌入式系統(tǒng)。

測量元素范圍:硫(S)至鈾(U)之間的所有元素,元素檢出限:0.001-0.01

測量時間:10-60s (可調)

 

EDX8600

能量色散X熒光光譜儀(ROHS鹵素檢測儀) 

測試范圍:ROHS(鉛.鎘.汞.溴.鉻+鹵素)及從硫到鈾元素分析

電壓zui大輸出: 50kV

zui小5kv可控調節(jié)

自帶電壓過載保護

 

EDX8300

     能量色散X熒光光譜儀

銅合金檢測儀.元素成份分析儀

測量元素范圍: 從硫(S)至鈾(U)等 75 種元素

元素含量分析范圍: 2ppm-99.99%

測量時間: 100-300s (可調)

七種光路校正系統(tǒng),由軟件自動控制

三重安全保護模式

 

 

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