TESCAN AMBER FIB-SEM雙束電鏡

TESCAN AMBER 是一款雙束（FIB-SEM）聚焦掃描電鏡系統(tǒng)系統(tǒng)，可以滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求，在提供的圖像質(zhì)量的同時，可完成復(fù)雜的納米操作并保證精度和操作靈活性。

TESCAN AMBER 配置了新的 BrightBeam™ 鏡筒，真正的無磁場超高分辨（UHR）可以實現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析，以及在 FIB 操作時 SEM 的實時監(jiān)測。另一方面，創(chuàng)新的 Orage™  FIB 鏡筒配有*的離子光學(xué)系統(tǒng)和氣體注入系統(tǒng)，使得 TESCAN AMBER 成為了世界的樣品制備和納米加工的儀器。

模塊化、基于工作流的軟件確保了在所有應(yīng)用中都能很大程度進行操控，不需要在復(fù)雜的技術(shù)之間進行取舍，用戶界面友好。因而 TESCAN AMBER 是FIB-SEM應(yīng)用的理想選擇，也是所有追求日常科學(xué)和技術(shù)突破的人士的分析平臺。

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