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[供應(yīng)]AIM500-自動夾雜物檢測顯微鏡
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  • AIM500-自動夾雜物檢測顯微鏡
貨物所在地:
上海上海市
產(chǎn)地:
上海
更新時間:
2020-07-10 21:00:17
有效期:
2020年7月10日 -- 2021年1月10日
已獲點(diǎn)擊:
452
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產(chǎn)品簡介

支持夾雜物測試的多種國內(nèi)及標(biāo)準(zhǔn):GB/T 10561、ISO 4967、JIS G 0555、ASTM E 45、BS EN 10247、GB/T 18254、DIN 50 602等;支持標(biāo)準(zhǔn)中的提到的多種處理方法,A~E法、K法、M法、P法等。系統(tǒng)定期更新夾雜物標(biāo)準(zhǔn)。系統(tǒng)自動識別夾雜物、自動分析及雜物類別(分別用不同顏色標(biāo)出)、自動統(tǒng)計(jì)顆粒參數(shù)。

詳細(xì)介紹

全進(jìn)口三維掃描臺,金相顯微鏡,支持夾雜物檢測的多種國內(nèi)及標(biāo)準(zhǔn):GB/T 10561、ISO 4967、JIS G 0555、ASTM E 45、BS EN 10247、GB/T 18254、DIN 50 602等;支持標(biāo)準(zhǔn)中的提到的多種處理方法,A~E法、K法、M法、P法等。系統(tǒng)定期更新夾雜物標(biāo)準(zhǔn)。系統(tǒng)自動識別夾雜物、自動分析及雜物類別(分別用不同顏色標(biāo)出)、自動統(tǒng)計(jì)顆粒參數(shù)。同時支持夾雜物顆粒修改。提供多種統(tǒng)計(jì)分析工具:MAP圖、夾雜物顆粒列表、夾雜物統(tǒng)計(jì)結(jié)果、直方圖等。 同時支持夾雜物跨視野分析。掃描過程包含全自動對焦和全自動圖象拼接。支持多種形狀的掃描區(qū)域:矩形區(qū)域、圓形區(qū)域、環(huán)形區(qū)域、扇形區(qū)域等,支持多種掃描路徑,滿足各種應(yīng)用需要。支持多種聚焦模式:補(bǔ)償聚焦、跟蹤聚焦、手動聚焦、EFI聚焦等。采用的聚焦算法,保證在試樣不夠平整的情況下也能得到清晰的圖像。專業(yè)的夾雜物評級報告,包含各個類別的夾雜物評級,根據(jù)不同標(biāo)準(zhǔn)生成對應(yīng)的專業(yè)報告;支持報告的個性化設(shè)計(jì)。

掃描過程自動拍照、自動保存,進(jìn)度實(shí)時可見;照片信息存入數(shù)據(jù)庫,方便查詢;并且可以對試樣的信息及圖片進(jìn)行加密,防止沒有*進(jìn)行查看修改。

 

 

提供視場圖片瀏覽檢查功能,可以實(shí)現(xiàn)每個視場定位回溯、重新拍照等功能。

 

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