產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
探傷試塊RB-1,超聲試塊RB-2,RB-3標(biāo)準(zhǔn)試塊
探傷試塊RB-1,超聲試塊RB-2,RB-3標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用途:
1、 繪制距離—波幅曲線
2、 調(diào)整探測(cè)范圍和掃描速度
3、 測(cè)定斜探頭的K值。
CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試探頭折射角的刻度面。
1.利用R100曲面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度
2.利用Φ50和1.5mm圓孔測(cè)定斜探頭的折射角
3.利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭聲束軸線的偏離情況
4.利用25mm厚度測(cè)定探傷儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍
5.利用25mm厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度
6.利用R50和100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度
7.利用Φ50、44和40三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力
產(chǎn)品名稱:縱波直探頭試塊
產(chǎn)品型號(hào):CBI-1#-2#、3#-4#試塊
產(chǎn)品類別:超聲波試塊
產(chǎn)品性質(zhì):綜合經(jīng)營(yíng)產(chǎn)品
產(chǎn)品資料:供應(yīng)縱波直探頭試塊及縱波雙晶直探頭試塊,有意者請(qǐng)與本公司。
試塊支架用來支撐試塊,以避免其受到外界損壞。
探傷試塊RB-1,超聲試塊RB-2,RB-3標(biāo)準(zhǔn)試塊--其他規(guī)格:
試塊 | CSK-IA |
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試塊 | CSK-IIA |
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試塊 | CSK-IIIA |
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試塊支架 | CSK-IA |
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試塊翻轉(zhuǎn)架 | CSK-IIIA |
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試塊 | CSK-IVA |
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試塊 | CSK-IB |
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試塊支架 | CSK-IB |
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試塊 | RB-1 |
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試塊 | RB-2 |
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試塊翻轉(zhuǎn)架 | RB-2 |
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試塊 | RB-3 |
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試塊翻轉(zhuǎn)架 | RB-3 |
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荷蘭試塊V-1 | V-1(IIW1) |
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試塊支架 | V-1 |
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牛角試塊 | V-2(IIW2) |
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板厚≤20㎜雙晶直探頭試塊 |
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板厚>20㎜單直探頭試塊 | 1#--4# |
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5#--6# |
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縱波直探頭試塊 | 1#--2# |
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3#--4# |
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縱波雙晶直探頭試塊 |
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試塊 | SD-I |
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試塊 | SD-IIa、b |
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試塊 | SD-III |
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試塊 | SD-IV |
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小徑管試塊 | DL-1 |
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螺栓試塊 | LS-1 |
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螺栓試塊 | LS-2 |
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螺栓探頭 | 5p7×12 4° |
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螺栓探頭 | 5p9×9 4° |
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螺栓探頭 | 5p13×13 4° |
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螺栓探頭 | 5p8×12 k1.7 |
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螺栓探頭 | 2.5p8×12 k1.7 |
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試塊 | TP-1 |
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試塊 | TP-2 |
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試塊 | TP-3 |
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半圓試塊 | SH-1 |
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靈敏度試塊 | CS-1 |
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護(hù)環(huán)試塊 | A |
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石油標(biāo)準(zhǔn)試塊 | SGB 1?!?/span>6# |
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試塊 | RB-T |
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試塊 | RB-Z |
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階梯試塊(射線) |
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鋼網(wǎng)架試塊 | CSK-1C |
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鋼網(wǎng)架試塊 | RBJ-1 |
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鋼焊縫手工超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB/T 11345-89 | |||
CSK-1B |
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CSK-IB 試塊支架 | |||
RB-1 | |||
RB-2 | |||
RB-2翻轉(zhuǎn)架 | |||
RB-3 | |||
RB-3翻轉(zhuǎn)架 | |||
雙晶直探頭試塊 | 板厚≤20mm |
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單晶直探頭試塊 | 板厚 >21mm | 試塊附件 |
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縱波直探頭試塊 |
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| 鋼翻轉(zhuǎn)支架 | 適用CSK-ⅢA |
曲面鋼板試塊 |
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| 適用RB-3 | |
復(fù)合鋼板試塊 |
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| 小徑管底座 | DL-1 |
奧氏體鋼鍛件試塊 |
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標(biāo)準(zhǔn)試塊 | CSK-ⅠA |
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CSK-ⅡA |
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CSK-ⅢA |
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CSK-ⅣA |
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對(duì)比試塊 | T1 |
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T2 |
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T3 |
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鋁合金試塊 |
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測(cè)厚試塊 |
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探傷試塊RB-1,超聲試塊RB-2,RB-3標(biāo)準(zhǔn)試塊――試塊檢測(cè)報(bào)告:
超聲波探傷 | |||
檢測(cè)儀器 | CTS-26 | 探頭 | 2.5P直徑20 |
檢測(cè)部位 | 平面 | 耦合劑 | 機(jī)油 |
增益 | 80% | 抑制 | 關(guān) |
衰減 | 42db | ||
探傷結(jié)果 | 材質(zhì)均勻,無雜質(zhì),無影響使用缺陷. | ||
試塊材質(zhì)符合GB/T699-1999(優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼)標(biāo)準(zhǔn)要求. | |||
金相分析:晶粒度7-8級(jí) |
探傷試塊RB-1,超聲試塊RB-2,RB-3標(biāo)準(zhǔn)試塊
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