常用粒度測試方法所具有哪些優(yōu)缺點(diǎn)
顆粒的大小稱為顆粒的粒度。顆粒是在一定尺寸范圍內(nèi)具有特定形狀的幾何體。顆粒不僅指固體顆粒,還有霧滴、油珠等液體顆粒。顆粒的概念似乎很簡單,但由于各種顆粒的形狀復(fù)雜,使得粒度分布的測試工作比想象的要復(fù)雜得多。因此要真正了解各種粒度測試技術(shù)所得出的測試結(jié)果,明確顆粒的定義是很重要的。
篩分法: 優(yōu)點(diǎn):簡單、直觀、設(shè)備造價低、常用于大于40μm的樣品。
缺點(diǎn):不能用于40μm以細(xì)的樣品;結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
顯微鏡(圖像)法: 優(yōu)點(diǎn):簡單、直觀、可進(jìn)行形貌分析,適合分布窄(zui大和zui小粒徑的比值小于10:1)的樣品。
缺點(diǎn):無法分析分布范圍寬的樣品,無法分析小于1微米的樣品。
沉降法(包括重力沉降和離心沉降): 優(yōu)點(diǎn):操作簡便,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,價格低,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,測試范圍較大。
缺點(diǎn):測試時間較長,操作比較復(fù)雜。
庫爾特法: 優(yōu)點(diǎn):操作簡便,可測顆??倲?shù),等效概念明確,速度快,準(zhǔn)確性好。
缺點(diǎn):適合分布范圍較窄的樣品。
激光法: 優(yōu)點(diǎn):操作簡便,測試速度快,測試范圍大,重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可進(jìn)行在線測量和干法測量。
缺點(diǎn):結(jié)果受分布模型影響較大,儀器造價較高。
電鏡: 優(yōu)點(diǎn):適合測試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。
缺點(diǎn):樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。
超聲波法: 優(yōu)點(diǎn):可對高濃度漿料直接測量。
缺點(diǎn):分辨率較低。
透氣法: 優(yōu)點(diǎn):儀器價格低,不用對樣品進(jìn)行分散,可測磁性材料粉體。
缺點(diǎn):只能得到平均粒度值,不能測粒度分布。