200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀器采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決...

300A綜合型液晶電壓降測試儀器用于電線束、插接器、開關(guān)觸點、繼電器、汽車開關(guān)等相關(guān)產(chǎn)品之接觸電阻、溫升、電壓降或負載測量，同時也適用于具有類似特性產(chǎn)品使用.

200A綜合型液晶電壓降測試儀器用于電線束、插接器、開關(guān)觸點、繼電器、汽車開關(guān)等相關(guān)產(chǎn)品之接觸電阻、溫升、電壓降或負載測量，同時也適用于具有類似特性產(chǎn)品使用.

100A綜合型液晶電壓降測試儀器電線束、插接器、開關(guān)觸點、繼電器、汽車開關(guān)等相關(guān)產(chǎn)品之接觸電阻、溫升、電壓降或負載測量，同時也適用于具有類似特性產(chǎn)品使用.

300A實用型直流電壓降測試儀器直流恒流源，電流可測試到1000A；數(shù)顯壓降，電流，電壓；電流負載測量,測量開關(guān)觸點、繼電器、開關(guān)、線材線束、壓接線端子、連接器...

200A實用型直流電壓降測試儀器直流恒流源，電流可測試到1000A；數(shù)顯壓降，電流，電壓；電流負載測量,測量開關(guān)觸點、繼電器、開關(guān)、線材線束、壓接線端子、連接器...

100A實用型直流電壓降測試儀器直流恒流源，電流可測試到1000A；數(shù)顯壓降，電流，電壓；電流負載測量,測量開關(guān)觸點、繼電器、開關(guān)、線材線束、壓接線端子、連接器...

經(jīng)濟型數(shù)顯電壓降測試儀器采用恒流源系統(tǒng)，本機型分為交流機型和直流機型兩款，參照標準對接插件及電線束類產(chǎn)品的測試要求，也適用于具有類似特性之產(chǎn)品壓降的檢測，數(shù)顯壓...

經(jīng)濟型數(shù)顯電壓降測試儀器采用恒流源系統(tǒng)，本機型分為交流機型和直流機型兩款，參照標準對接插件及電線束類產(chǎn)品的測試要求，也適用于具有類似特性之產(chǎn)品壓降的檢測，數(shù)顯壓...

經(jīng)濟型恒流電壓降測試儀器采用恒流源系統(tǒng)，本機型分為交流機型和直流機型兩款，參照標準對接插件及電線束類產(chǎn)品的測試要求，也適用于具有類似特性之產(chǎn)品壓降的檢測，數(shù)顯壓...

經(jīng)濟型恒流電壓降測試儀器采用恒流源系統(tǒng)，本機型分為交流機型和直流機型兩款，參照標準對接插件及電線束類產(chǎn)品的測試要求，也適用于具有類似特性之產(chǎn)品壓降的檢測，數(shù)顯壓...

半自動四探針觸屏測試儀器晶圓、非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量；選擇性發(fā)射極擴散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴散片；新型電極設計，如電鍍銅電阻測量等；半導體材...

半自動四探針觸屏測試儀器晶圓、非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量；選擇性發(fā)射極擴散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴散片；新型電極設計，如電鍍銅電阻測量等；半導體材...

半自動觸屏四探針測試儀器晶圓、非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量；選擇性發(fā)射極擴散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴散片；新型電極設計，如電鍍銅電阻測量等；半導體材...

全自動四探針電阻測試儀器晶圓、非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量；選擇性發(fā)射極擴散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴散片；新型電極設計，如電鍍銅電阻測量等；半導體材...

全自動四探針電阻測量測試儀器四點探針法，全自動化運行測量系統(tǒng)，PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理；參照A.S.T.M 標準方法測試半導體材料電阻率和方塊電阻；可設定探針壓力...

1000KG自動極片平面探頭電阻測試儀器采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實現(xiàn)壓強與電...

500KG自動極片平面探頭電阻測試儀器采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實現(xiàn)壓強與電阻...

300KG自動極片平面探頭電阻測試儀器采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實現(xiàn)壓強與電阻...

1000KG兩探針自動極片電阻測試儀器采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實現(xiàn)壓強與電阻...