1000KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻...

500KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,...

300KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,...

1000KG兩探針自動(dòng)極片電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,...

500KG兩探針自動(dòng)極片電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電...

300KG兩探針自動(dòng)極片電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電...

200KG兩探針自動(dòng)極片電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電...

液晶屏顯雙極板接觸電阻體電阻測(cè)試用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測(cè)量和分析.4.3寸液晶屏幕顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度...

液晶顯示雙極板接觸電阻體電阻測(cè)試用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測(cè)量和分析.4.3寸液晶屏幕顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度...

四探針自動(dòng)雙極板接觸電阻體電阻測(cè)試儀用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測(cè)量和分析.通過(guò)PC軟件操作界面運(yùn)行，四探針低阻測(cè)量和接觸電阻分析，自...

四探針自動(dòng)雙極板接觸電阻體電阻測(cè)試儀用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測(cè)量和分析.通過(guò)PC軟件操作界面運(yùn)行，四探針低阻測(cè)量和接觸電阻分析，自...

液晶顯示高阻四探針測(cè)試儀四探針?lè)y(cè)試高阻值材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到10^10Ω方阻值，液晶顯示，芯片控制，恒流輸出，四探針雙位測(cè)量、參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)...

液晶顯示高阻四探針測(cè)試儀 四探針?lè)y(cè)試高阻值材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到10^10Ω方阻值，液晶顯示，芯片控制，恒流輸出，四探針雙位測(cè)量、參考美國(guó)A.S.T.M...

恒流低阻雙電四探針測(cè)試儀四探針?lè)y(cè)試低阻材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到1uΩ方阻值，采用芯片控制，恒流輸出，液晶顯示，自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量，系數(shù)補(bǔ)償，參考美國(guó)A.S.T....

恒流低阻雙電四探針測(cè)試儀：四探針?lè)y(cè)試低阻材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到1uΩ方阻值，采用芯片控制，恒流輸出，液晶顯示，自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量，系數(shù)補(bǔ)償，參考美國(guó)A.S.T...

四探針液晶顯示電阻率測(cè)試儀雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)參考國(guó)標(biāo)單晶硅物理測(cè)試方法及A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探...

普通四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂...

四端測(cè)量導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀采用四端測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實(shí)驗(yàn)室；是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量工具。可配置不同測(cè)量裝置測(cè)試不同類型材...

四端測(cè)量導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀采用四端測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實(shí)驗(yàn)室；是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具。可配置不同測(cè)量裝置測(cè)試不同類型...

四端測(cè)量化學(xué)轉(zhuǎn)化膜表面電阻測(cè)試儀采用四端測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實(shí)驗(yàn)室檢驗(yàn)和分析用于涂覆鋁和鋁合金的化學(xué)轉(zhuǎn)化材料；鋁及鋁合金化學(xué)導(dǎo)電氧化膜層，...