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當(dāng)前位置：上海島韓實(shí)業(yè)有限公司>>技術(shù)文章>>簡(jiǎn)述測(cè)厚儀的測(cè)量原理
測(cè)厚儀是用來(lái)測(cè)量物體厚度的儀器，它是利用微波和激光技術(shù)制成的。它分為激光測(cè)厚儀，X射線測(cè)厚儀，薄膜測(cè)厚儀等。測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。
它的測(cè)量原理：
器測(cè)量出從安裝支架到物體表面的距離，進(jìn)而根據(jù)支架的固定距離計(jì)算得出物體的厚度。
激光束在被測(cè)物體表面上形成一個(gè)很小的光斑,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏面上,產(chǎn)生探測(cè)其敏感面上光斑位置的電信號(hào)。當(dāng)被測(cè)物體移動(dòng)時(shí),其表面上光斑相對(duì)成像物鏡的位置發(fā)生改變,相應(yīng)地其像點(diǎn)在光敏器件上的位置也要發(fā)生變化,進(jìn)而可計(jì)算出被測(cè)物體的實(shí)際移動(dòng)距離。 測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。
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