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平行平晶
*平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。
*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。共分四個(gè)系列，每個(gè)系列各分六組，每組四塊。
功能：用于干涉法測(cè)量千分尺、卡規(guī)和千分表等測(cè)量面平面度、平面平行度。
產(chǎn)品規(guī)格：
每組共四塊，分四個(gè)尺寸系列組
測(cè)量面上平面度偏差： <0.1μm
平面度局部偏差： >0.03μm
測(cè)量面平行度誤差： 組Ⅰ系列允差值：0.06μm
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm
組Ⅳ系列允差值：0.1μm
| 組Ⅰ |
| 0－25mm | 4塊/組 |
組Ⅱ |
| 25－50mm | 4塊/組 |
組Ⅲ |
| 50－75mm | 4塊/組 |
組Ⅳ |
| 75－100mm | 4塊/組 |
尺寸系列表
| 組號(hào) | 0－25 | 25－50 | 50－75 | 75－100 |
1 | 15.00，15.12 | 40.00，40.12 | 65.00，65.12 | 90.00，90.12 |
2 | 15.12，15.25 | 40.12，40.25 | 65.12，65.25 | 90.12，90.25 |
3 | 15.25，15.37 | 40.25，40.37 | 65.25，65.37 | 90.25，90.37 |
4 | 15.37，15.50 | 40.37，40.50 | 65.37，65.50 | 90.37，90.50 |
5 | 15.50，15.62 | 40.50，40.62 | 65.50，65.62 | 90.50，90.62 |
6 | 15.62，15.75 | 40.62，40.75 | 65.62，65.75 | 90.62，90.75 |