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x射線kvp表/暴露時間測量表

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  • 型號 DD.62-K815 KVP
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更新時間:2017-12-01 21:15:19瀏覽次數(shù):312

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產(chǎn)品簡介

Ecc Model 815 型x射線kvp表/暴露時間測量表是測量鎢發(fā)射出來的x射線的Z大或峰值輸出電壓的。Ecc Model 815是一個專門為個人測量x射線強度的穩(wěn)定,數(shù)字儀器,這個儀器不僅僅用在x射線加速電壓,而且用在測量暴露時間長短上。 兩種功能在儀器上可以kv的形式檢查。

詳細介紹

x射線kvp表/暴露時間測量表
型號 DD.62-K815 KVP
圖片
簡介   Ecc Model 815 型x射線kvp表/暴露時間測量表是測量鎢發(fā)射出來的x射線的zui大或峰值輸出電壓的。Ecc Model 815是一個專門為個人測量x射線強度的穩(wěn)定,數(shù)字儀器,這個儀器不僅僅用在x射線加速電壓,而且用在測量暴露時間長短上。 兩種功能在儀器上可以kv的形式檢查。
一般操作說明
開關設置
為了保持操作簡單和直接明了,儀器本身只有兩個開關在前面板。
開/關 按鈕
開/關 按鈕
開/關按鈕是用來開關儀器的,開關是鮮艷的綠色,當儀器開著的時候它的燈將變?yōu)榱辆G,當儀器不用的時候記得關閉按鈕以便保存電池電量。
調(diào)節(jié)開關
調(diào)節(jié)開關有兩個功能:
1, zui初開關打開,儀器轉(zhuǎn)換到“高分辨率”模式。
2, Kvp讀數(shù)得到后,按下這個調(diào)節(jié)開關將提供額外信息。
一, 高分辨率/高速度調(diào)節(jié)模式
當儀器*次打開時,他上面會提示“通用”(normal)或“高速度”(High Speed model)模式,當使用“通常”模式時815表測量x射線時間為100ms(0.1秒)按下按鈕一次將會使儀器處于“高分辨率”模式(High Resolution)下,x射線暴露取值時間不少于200ms(0.2秒)當要使用高速度模式(High Speed model)時x射線暴露時間至少要100ms(1/10秒)當在高分辨率模式下使用儀表時,暴露時間必須達到至少200ms(0.2秒)
當儀表設置在高分辨率模式下時,他將保持在高分辨模式下知道它被關閉,要想在高速度或通用模式下使用時,先關掉電源然后再打開,在關于使用高分辨率操作的說明在以下的章節(jié)有更詳細的說明。
二, 附加信息顯示
測量過后,kvp值將會顯示。附加信息將會隨著按鈕按下瞬間顯示,儀表將會接著顯示下面的信息:
● 波形類型
● 暴露時間
同時返回到kvp方式。
波形類型和暴露時間將會依次在1.2秒的時間里顯示,附加信息顯示完畢之后,顯示將會回復到kvp模式,這時表將會為下次讀數(shù)做準備。如果電池電量太低則“電量低”(“Batt low”)信息提示也會在1.2s內(nèi)顯示。
操作
Kvp測量
為了使用Model 815型x射線表進行kvp測量,在很多的情況下它只須打開這個儀器就可以直接測量。但是要把檢測的目標放在燈的中心位置,這樣就可以檢測到暴露值。
為了保證得到精確的讀數(shù)以下幾點要記住。
1、 電流(mA)
當Model 815 所測的目標在合適的位置則它的操作精度減少到70mA,的精度是在10mA到50mA之間得到。
2、 高度
對于半波x射線在7到15mA輸出范圍內(nèi),它的錐形波形應該在高于儀器1/2到2英寸處對于x射線在25到100mA輸出,把儀器放在儀器上方8到16英寸處(1英寸=2.540cm)
3、 校準(collimation)
X射線校準要以2″每次地向目標中心移動。
4、 暴露時間
它有兩種模式需要不同的暴露時間。
在“通常”或“高速”模式下暴露時間必須至少在0.1秒(100ms)
儀器可在100ms暴露時間里測到kvp值,為了減少頂部的磨損破裂和在射線下操作。暴露時間大于100ms是沒有必要的,當儀器用于測量暴露時間,稍微長一點的暴露是允許的。
在高分辨率模式下x射線曝光時間至少在0.2s(200ms)儀器在*個200ms時間之間測得kvp值為了減少頂部的磨損和破裂,在射線下操作。暴露時間大于200ms是沒有必要的。當儀器用于測量曝光時間時,長的暴露時間是允許的。
5、 波形
這個儀器在測量zui大值或峰值加速電壓時為了使x射線的穩(wěn)定一般要求x射線暴露時間在30ms時間以外應該再稍有延遲。儀器將會在剩余的時間里顯示x射線暴露的加速電壓的峰值。
6、 初始化讀數(shù)
當x射線檢測器不使用時它會積累電荷,當初始化開關打開時,儀器需要一條射線束才能準確地工作。
暴露時間測量
815型kvp表在測量暴露時間時kvp值也會被測量到,為了顯示測量后暴露時間按一下白色的按鈕,暴露時間將會在顯示屏上以ms為單位顯示結(jié)果。在“通常”或“高速”模式下,曝光時間小于100ms則不能測量。X射線暴露時間至少在100ms如果要求測量曝光時間在100ms以內(nèi)的請致電去購買8700型數(shù)字x射線表。
當儀器在高分辨率模式時,暴露時間少于200ms是不能被精確地測量到結(jié)果的,x射線暴露時間至少在200ms,我們*您使用通用模式對暴露時間進行測量。
更準確的暴露時間在低的kvp/mA設置處得到,很多的高能量x射線曝光時間會因為顯著的衰變使得曝光時間延長,我們主張在50到80kv、25到50mA的范圍內(nèi)測出暴露時間的測量。
高分辨率 

    K815型表是一個為了減少對x射線頭的損壞而專門設計的精密測量儀器,但是它有三種情況可以在較長時間里得到x射線的精確波形樣圖。
低能量-當kvp的值在60kvp時,精確的讀數(shù)可以通過設置x射線的曝光時間200ms和在高分辨率模式下提高。
一些x射線檢測儀特別是老式的儀器在很長一段時間里才能檢測到x射線的暴露峰值,在通用模式和高速度模式下儀器會在開始測量時間前等待30ms的時間,這個等待時間,在高分辨率模式下加倍,并且實際測量時間也加倍。
一些直流和多相電子束運動非常迅速,然而它有很大的過沖,如果過沖時間大于30ms在高分辨率模式下將會得到真實的kvpzui大值的精確讀數(shù)。
以下是儀表顯示的提示信息的具體描述。
Rdy Fast-Unit 在快速模式下讀數(shù)
Rdy Hires 準備在高分辨率模式下測量
AlignErr-Alignment Error 把815型表放在x射線處,開始測量
OverRng X射線輸出值太高,減少其值或增加射線源到815表的距離。
Overscale 輸出射線超過815表的測量范圍
Low Batt 電池電量低,這時儀器可以繼續(xù)工作幾小時但是精度會有影響,請快換電池。
濾除因子
815型kvp表有一個為鎢管x射線儀校正的1.5mm厚的鋁制過濾裝置,當x射線有不同的過濾裝置時,請根據(jù)下表提到的數(shù)字在讀kvp值時適當調(diào)整。
Added filtration (增加的過濾器) 60kvp 80kvp 100kvp 120kvp
0.5mm -0.2 -0.5
1.0mm -0.4 -0.9 -1.1 -0.6
例如你的x射線過濾裝置為2.5mm的Al,也就相當于增加的過濾裝置的厚度為1.0mm當讀能量約為60kvp的射線值時將會高出0.8kvp。減去0.8kvp就得到正確的讀數(shù)。
這個值也可以是其中間的某一個。如: 當檢測的射線能量在70kvp時,在0.5mm增加過濾裝置時(共2.0mm)使用校正因子在0.3到0.5之間的值即0.4,也就是說,當測量70kvp能量射線在過濾裝置在0.2mm Al時應在讀數(shù)基礎上減去0.4kvp。
當射線能量在55kvp以下時這個校正因子非常小可以忽略不計。
 

   


 

 
 

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