產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
渦流測(cè)厚儀 | |||
型號(hào) | MM.1-ED300 | ||
圖片 | |||
簡(jiǎn)介 | MM.1-ED30型渦流測(cè)厚儀是一種小型便攜式儀器。性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、重現(xiàn)性好、經(jīng)濟(jì)耐用,符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957,多次通過(guò)國(guó)家技術(shù)監(jiān)督部門(mén)的性能試驗(yàn),獲得計(jì)量器具制造許可證。許可證編號(hào):遼制01030012。儀器的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)—膜厚校準(zhǔn)箔片,由遼寧省*檢測(cè),附有遼寧省*出具的檢測(cè)報(bào)告。儀器在國(guó)內(nèi)鋁型材、鋁門(mén)窗、技術(shù)監(jiān)督、工程質(zhì)檢等行業(yè)得到廣泛應(yīng)用,得到用戶(hù)的信任與好評(píng)。 應(yīng)用范圍 MM.1-ED30型,用于檢測(cè)各種非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。例如:鋁型材、鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁工件表面的陽(yáng)極氧化層或涂層。儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷(xiāo)售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速無(wú)損的膜厚檢查??捎糜谏a(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。 技術(shù)規(guī)格 量程: 0~150μm; 精 度: ±3%; 分辨率:0.1μm; 功耗: 0.06W; 外形尺寸: 150mm×80mm×30mm; 重 量: 280g。 儀器特點(diǎn) * 膜厚校正片 膜厚校正片是儀器的計(jì)量基準(zhǔn)。本儀器的膜厚校正片全部經(jīng)過(guò)技術(shù)監(jiān)督部門(mén)的檢測(cè),附有檢測(cè)報(bào)告。這一點(diǎn)在國(guó)內(nèi)外儀器中都是不多見(jiàn)的。它保證了儀器計(jì)量的準(zhǔn)確性和可靠性。 * 探頭 測(cè)厚儀zui容易損壞的部件是探頭,本儀器對(duì)探頭做了特殊的耐久性設(shè)計(jì),具有防磕碰、防水、探頭線防折曲等防護(hù)功能。 * 探頭線 由于儀器使用頻率很高,探頭線成為易損件。一般國(guó)產(chǎn)儀器的探頭用不多久就會(huì)出現(xiàn)故障,多數(shù)問(wèn)題出在探頭線上。 天星測(cè)厚儀使用的探頭線是在日本定做的。這種導(dǎo)線zui初用于機(jī)器人,規(guī)定可經(jīng)受幾百萬(wàn)次的曲折。實(shí)踐證明,這種探頭線很少有因頻繁曲折而損壞的。 * 久經(jīng)考驗(yàn) 鋁型材行業(yè)是使用環(huán)境zui惡劣的,對(duì)膜厚檢測(cè)的要求也zui高,通常要求對(duì)每根型材測(cè)試兩端的膜厚。測(cè)厚儀每天可能測(cè)試上千次。探頭還要時(shí)常受到水或氧化槽液的侵蝕,磕磕碰碰時(shí)有發(fā)生。目前國(guó)產(chǎn)有多個(gè)品牌,但是只有天星測(cè)厚儀 MM.1-ED30 及早期產(chǎn)品 ED200 是可以在這種場(chǎng)合*使用的。目前幾乎每一家鋁型材廠都在使用天星測(cè)厚儀,而其他國(guó)內(nèi)品牌,加上進(jìn)口儀器的總使用量還不及天星儀器的 1/3。以上足以說(shuō)明天星測(cè)厚儀性能之優(yōu)良。鋁型材行業(yè)用得住的測(cè)厚儀,在其他行業(yè)應(yīng)用應(yīng)該毫無(wú)問(wèn)題。 天星測(cè)厚儀經(jīng)歷了十幾年在惡劣條件下使用的考驗(yàn)。十幾年來(lái)我們一直在努力進(jìn)行改進(jìn)和完善,它是一種性能優(yōu)良、可靠實(shí)用的儀器。 標(biāo)準(zhǔn)配置 主機(jī) 1臺(tái) 膜厚校正片 1套 (4片) 校正基體 1塊 儀器箱 1個(gè) 可選附件 膜厚校正片 (12μm\25μm\50μm\100μm附檢測(cè)報(bào)告) 校正基體 6063鋁合金 |