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本測試裝置是由測微平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)變化通過公式計算得到。同樣，由平板電容器的刻度讀數(shù)變化，通過公式計算得到介電常數(shù)


型號		WD.106-916D介質(zhì)損耗測試裝置
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簡介		介質(zhì)損耗測試裝置與WD.106-2851D、WD.106-2852D、WD.106-2853D Q表及電感器配用，能對絕緣材料進行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。本測試裝置是由測微平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)變化通過公式計算得到。同樣，由平板電容器的刻度讀數(shù)變化，通過公式計算得到介電常數(shù)。 1工作特性 1.1 平板電容器： 1.1.1 極片尺寸： WD.106-916D-38：Φ38mm. WD.106-916D-50：Φ50mm. 1.1.2 極片間距可調(diào)范圍和分辨率： ≥8mm， ±0.002mm 1.2 夾具插頭間距： 25mm±1mm 1.3夾具損耗角正切值 ≤2.5×10-4