產(chǎn)品簡(jiǎn)介
測(cè)量范圍:0.03μm~99.99μm 準(zhǔn)確度:±10%
復(fù)現(xiàn)精度:<5%
電位測(cè)量范圍:-100mv~+400mv 電位測(cè)量精度:±5%\
本產(chǎn)品榮獲國(guó)家輕工部科技成果三等獎(jiǎng)。
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品標(biāo)題 | 電鍍層電解膜厚測(cè)試儀 北京 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
型號(hào) | KH.1-20IA(微電腦型號(hào)KH.1-HQT-IB) | ||||||||||||||||||||||||||||||||
圖片 | ![]() | ||||||||||||||||||||||||||||||||
簡(jiǎn)介 | 測(cè)量品種:銅、鎳、鉻、鋅、鎘、銀、金、多層鎳各層厚度及層間電位差。
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