產(chǎn)品簡介
X射線熒光(XRF)分析技術是測定由初級X射線激發(fā)樣品時所產(chǎn)生的二次特征X射線(X射線熒光),它是一種非破壞性分析方法,可實現(xiàn)固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體,液體樣品中主,次多元素同時測定,檢出限在mg/kg 量級范圍內,制樣方法簡單,現(xiàn)已廣泛應用于地質、材料、環(huán)境、冶金樣品的常規(guī)分析。XRF作為一種無損檢測技術,可以直接應用于現(xiàn)場、原位分析,在材料分析領域占有重要地位。
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