標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T2423.21-2008等同于通用標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-13:1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法（試驗M低氣壓），適用于室溫條件下的低氣壓試驗，高低溫低氣壓試驗箱的試驗?zāi)康氖怯糜诖_認元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應(yīng)性（注：在高溫和低氣壓綜合或低溫和低壓綜合環(huán)境下貯存、運輸或使用的產(chǎn)品，這種綜合環(huán)境對于施加于產(chǎn)品上的應(yīng)力或失效機理的影響是十分重要的，應(yīng)按下列標(biāo)準(zhǔn)進行試驗）：
GB/T 2423.25 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗

    高低溫低氣壓試驗箱標(biāo)準(zhǔn)的條款是通過部分引用文件形成的，其版本適用于本部分，引用文件如下:
GB/T 2421 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分：總則（GB/T 2421-1999,IEC 600681-1：1988，IDT）
GB/T 2423.25 電工電了產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗（GB/T 2423.25-2008，IEC 60068-2-40：1983,IDT）
GB/T2423.26 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗（GB/T 2423.26-2008,IEC 60068-2-41：1983，IDT）
ISO2533 標(biāo)準(zhǔn)大氣
    附 一般說明：
    高低溫低氣壓試驗原理為：將試驗樣品放入試驗箱，然后將箱內(nèi)氣壓降低到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的值，并保持規(guī)定持續(xù)時間的試驗。

  高低溫低氣壓試驗箱規(guī)范性引用文件