深圳華清儀器儀表有限公司

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貝克休斯 MSEB2-E雙晶直探頭

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品牌其他品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地深圳市

更新時(shí)間:2023-07-25 16:01:43瀏覽次數(shù):642次

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 電子
貝克休斯 MSEB2-E雙晶直探頭特性
獨(dú)立的聲波發(fā)射和接收單元
縱波垂直傳輸
小焦距探頭具有非常好的近場分辨率
使用的塑料延遲塊,即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
延遲塊由一個(gè)金屬環(huán)保護(hù)以防磨損
在焦點(diǎn)內(nèi)特別適合剩余壁厚的測量
加上延遲塊(定制產(chǎn)品)能夠在高溫表面測量
應(yīng)用
近表面的小缺陷探測和評估
焦點(diǎn)內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測
腐蝕、銹蝕剩

貝克休斯 MSEB2-E雙晶直探頭特性

獨(dú)立的聲波發(fā)射和接收單元

縱波垂直傳輸

小焦距探頭具有非常好的近場分辨率

使用***的塑料延遲塊,即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性

延遲塊由一個(gè)金屬環(huán)保護(hù)以防磨損

在焦點(diǎn)內(nèi)特別適合剩余壁厚的測量

加上***延遲塊(定制產(chǎn)品)能夠在高溫表面測量

應(yīng)用

近表面的小缺陷探測和評估

焦點(diǎn)內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測

腐蝕、銹蝕剩

貝克休斯 MSEB2-E雙晶直探頭

系列

型號

頻率

(MHz)

焦距

(mm)

單晶片尺寸

(mm)

外觀尺寸

帶寬

接口類型

接口方向

SEB

SEB 1

1

20

Φ21半圓

類型15

40

雙聯(lián)

Lemo 00

側(cè)裝

SEB 1-EN

1

20

SEB 2

2

15

7x18

SEB 2-EN

2

15

SEB 2-0°

2

30

SEB 2-EN-0°

2

30

SEB 4

4

12

6x20

SEB 4-EN

4

12

SEB 4-0°

4

25

SEB 4-EN-0°

4

25

MSEB

MSEB 2

2

8

Φ11半圓

類型16

40

MSEB 2-EN

2

8

MSEB 4

4

10

3.5x10

MSEB 4-EN

4

10

MSEB 4-EN-0°

4

18

MSEB 4-0°

4

18

MSEB 5

5

10

Φ9半圓

SEB KF

SEB 2 KF 5

2

6

Φ8半圓

類型17

30-60

Microdot

X2

SEB 4 KF 8

4

6

SEB 4 KF 8-EN

4

6

SEB 5 KF 3

5

3

SEB 10 KF 3

10

3

Φ5半圓

類型18








供應(yīng)多浦樂A5P14x14A60超聲斜探頭

供應(yīng)多浦樂A5P14x14A60超聲斜探頭$r$n斜探頭是一種通過固定

供應(yīng)多浦樂A5P14x14A70超聲斜探頭

供應(yīng)多浦樂A5P14x14A70超聲斜探頭$r$n斜探頭是一種通過固定

供應(yīng)多浦樂6P3*4A45超聲斜探頭

供應(yīng)多浦樂6P3*4A45超聲斜探頭$r$n斜探頭是一種通過固定角度的

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