貝克休斯MB2S保護(hù)膜探頭
深圳華清儀器專業(yè)供應(yīng)超聲波探傷儀，磁粉探傷儀，超聲波測厚儀，涂層測厚儀，及配件
應(yīng)用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機(jī)器零件、殼體
特點(diǎn)
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評(píng)判
性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測
可更換保護(hù)膜，保護(hù)探頭不被磨損
柔性保護(hù)膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，***
用于高溫檢測時(shí)可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）
應(yīng)用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機(jī)器零件、殼體
特點(diǎn)
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評(píng)判
性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測
可更換保護(hù)膜，保護(hù)探頭不被磨損
柔性保護(hù)膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，***
用于高溫檢測時(shí)可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）
貝克休斯MB2S保護(hù)膜探頭
類型 | 訂購號(hào)碼 | D | f | N | 備注 | ||
mm | in | (MHz) | mm | in | |||
B1S | 57744 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | |
B1S-EN | 500035 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B1S-O | 57755 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 頂端接口 |
B2S | 57745 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | |
B2S-EN | 500036 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B2S-O | 57756 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 頂端接口 |
B2S-O-EN | 500267 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 頂端接口 |
B4S | 57746 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | |
B4S-EN | 500037 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B4S-O | 57757 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 頂端接口 |
B4S-O-EN | 500268 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 頂端接口 |
B5S | 57747 | 24 | 0.94 | 5 | 110 | 4.3 | |
MB2S | 57748 | 10 | 0.39 | 2 | 8 | 0.3 | |
MB2S-EN | 500038 | 10 | 0.39 | 2 | 8 | 0.3 | 符合 DIN EN 12668-2 |
MB2S-O | 57975 | 10 | 0.39 | 2 | 8 | 0.3 | 頂端接口 |
MB4S | 57749 | 10 | 0.39 | 4 | 16 | 0.6 | |
MB4S-EN | 500039 | 10 | 0.39 | 4 | 16 | 0.6 | 符合 DIN EN 12668-2 |
MB4S-O | 57976 | 10 | 0.39 | 4 | 16 | 0.6 | 頂端接口 |
MB5S | 57750 | 10 | 0.39 | 5 | 20 | 0.8 | |
MB5S-O | 57977 | 10 | 0.39 | 5 | 20 | 0.8 | 頂端接口 |
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