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超聲波測厚儀探頭的分類

時(shí)間：2017/8/29閱讀：3659
 直接接觸式探頭：正如名稱所表明的那樣，直接接觸式探頭用于與試塊直接接觸。使用接觸式探頭的測量通常是zui容易實(shí)現(xiàn)的，對于非腐蝕測量的大多數(shù)常規(guī)測厚應(yīng)用，它們經(jīng)常是的方法。

 

　　延遲線探頭：延遲線探頭將一個(gè)由塑料、環(huán)氧或熔融硅作為一體的柱體作為在激發(fā)元件和試塊之間的延遲線。使用它們的主要原因是用于薄材料測量，在這種情況，將激發(fā)脈沖和底面回波分離開來是非常重要的。延遲塊可用作熱絕緣體，防止對熱敏感的探頭晶片直接和熱的工件接觸;同時(shí)延遲線也可為具有形狀或仿形狀用來改善對尖銳曲面或狹窄面上的聲能耦合。

 

　　水浸探頭：水浸探頭使用柱狀水或水池來將聲能耦合入試塊，它們也可用于移動產(chǎn)品的在線或加工過程中的測量;是用于在小半徑、凹槽的掃描的測量或耦合優(yōu)化。

 

　　雙晶探頭：雙晶片的探頭，或簡稱為雙晶探頭，主要用于粗糙、腐蝕表面的測量。它有獨(dú)立的發(fā)射晶片和接收晶片，以一個(gè)小角度安裝在延遲塊上從而將能量聚焦在試塊表面下的一個(gè)選定的距離上。雖然有時(shí)候雙晶探頭測量不如其他類型探頭，在腐蝕測量應(yīng)用中它們通常能提供顯著的良好的性能。

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