丹東時(shí)代東科儀器有限公司

X射線爬行器
X射線探傷機(jī)
數(shù)字超聲波探傷儀
超聲波測(cè)厚儀
磁粉探傷儀
振實(shí)密度儀
無損檢測(cè)耗材
冷光源觀片燈
射線報(bào)警儀
黑白密度計(jì)
各種型號(hào)超聲波探頭
涂層測(cè)厚儀
全自動(dòng)膠片烘干箱
數(shù)字渦流探傷儀
滲透探傷劑
無損檢測(cè)設(shè)備
硬度計(jì)
美國(guó)布魯斯洗片機(jī)
工業(yè)膠片
暗室紅燈
活動(dòng)拍片架
核輻射分析儀
雷達(dá)液位計(jì)
超聲波物位計(jì)
超聲波試塊
粉體特性測(cè)試儀
圖像顆粒分析系統(tǒng)

影響超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度的六大原因

時(shí)間:2018/10/31閱讀:4896
     影響超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度的6大原因:

  (1) 覆蓋層厚度大于25μm時(shí),其差與覆蓋層厚度近似成正比。

  (2) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)。

  (3) 任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響。

  (4) 渦流測(cè)厚儀對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的?! ?br />
    (5) 試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大。

  (6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度,粗糙度增大,影響增大。

會(huì)員登錄

X

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏!
標(biāo)簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
撥打電話
在線留言