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米青科儀器-米青科,上海米青科WYL-4應(yīng)力雙折射儀

閱讀:446        發(fā)布時(shí)間:2013-12-24

儀器簡(jiǎn)介:

透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機(jī)械作用等原因,其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力,引起雙折射,晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。WYL-4應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補(bǔ)償原理,通過(guò)對(duì)樣品的光程差的定量測(cè)定,確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能測(cè)定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級(jí)別,是光學(xué)儀器制造業(yè)*的儀器,也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具,廣泛應(yīng)用在國(guó)防、建材、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)方面,是各大專院校特別理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備。

儀器特點(diǎn):

l直讀納米級(jí)光程差,無(wú)須計(jì)算。

l雙分視場(chǎng)零位檢測(cè),靈敏度高。

l樣品工作臺(tái)45度自動(dòng)定位。

l體積小巧,結(jié)構(gòu)緊揍。

l操作方便,可靠實(shí)。

技術(shù)指標(biāo):

l單色光波長(zhǎng):589.44nm

l光程差測(cè)定范圍:(0590nm

l分度盤(pán)分度值:5 nm

l零位誤差:±2nm

l測(cè)量重復(fù)性:1nm

l被測(cè)試樣尺寸:寬度≤440mm,高度≤240 mm,長(zhǎng)度不限

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