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[供應(yīng)]HRJD-A-ASTMD150介電常數(shù)測(cè)試儀
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  • HRJD-A-ASTMD150介電常數(shù)測(cè)試儀
貨物所在地:
河北廊坊市
更新時(shí)間:
2022-11-21 10:37:45
有效期:
2022年11月21日 -- 2023年11月21日
已獲點(diǎn)擊:
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ASTMD150介電常數(shù)測(cè)試儀固體介質(zhì)材料相對(duì)介電常數(shù)測(cè)量方法 在固體介質(zhì)材料相對(duì)介電常數(shù)測(cè)量的實(shí)驗(yàn)儀器中,電容由上下兩極板構(gòu)成,極板之間放置被測(cè)介質(zhì)。 理論上,用萬用電橋測(cè)定平行板電容器在不同介質(zhì)狀態(tài)下電容的大小,即可得到介質(zhì)的相對(duì)介電常數(shù)。

詳細(xì)介紹

ASTMD150介電常數(shù)測(cè)試儀測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):ASTM D150-11實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數(shù))的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法;GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法;GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法;GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法第4部分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法ASTMD150介電常數(shù)測(cè)試儀轉(zhuǎn)動(dòng)螺母,使上極板上升略大于被測(cè)材料厚度的高度,平行放入被測(cè)材料,轉(zhuǎn)動(dòng)螺母使上極板下 降并壓緊被測(cè)材料,讀取此時(shí)的千分表示數(shù)并記錄。重復(fù)該步驟 5 次,每次使上極板上升后都將被測(cè)介 質(zhì)以中心線為軸轉(zhuǎn)動(dòng)一定的角度再壓緊,分別記錄 5 次的千分表示數(shù),平均值為被測(cè)樣品的厚度 t。介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制,測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定,諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索,Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換,數(shù)值顯示等新技術(shù),改進(jìn)了調(diào)諧回路,使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至*低,并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù),使得新儀器在使用時(shí)更為方便,測(cè)量值更為精確。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下,測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。



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