桌面式X射線衍射儀(XRD)主要用于材料結構分析，涵蓋物相、晶體結構、應力、織構、薄膜、納米結構、動態(tài)相變和非晶態(tài)分析。它廣泛應用于材料科學、地質學、化學、生物學等領域。
桌面式X射線衍射儀(XRD)的工作原理基于X射線衍射的基本原理，即當X射線照射到晶體上時，晶體內(nèi)部的原子或電子會散射這些射線，形成以各原子為中心的散射波。由于晶體中的原子是周期性排列的，這些散射波之間會產(chǎn)生固定的相位關系，導致在某些方向上散射線相互加強，形成衍射斑點，而在其他方向上則相互抵消。這種空間干涉現(xiàn)象就是X射線衍射的物理基礎。
X射線衍射技術廣泛應用于材料科學、化學、物理學等多個領域，用于探究物質的物相與晶體結構。其非破壞性、無污染、有效且高精度的特點，使其成為材料結構和成分分析的重要現(xiàn)代科學方法。
主要功能和應用領域
物相分析：通過衍射圖譜確定材料的晶體結構，并分析混合物中各物相的比例。
晶體結構分析：測定晶體的晶胞尺寸和形狀，確定晶體的對稱性和空間群。
應力分析：測量材料中的殘余應力及其分布。
織構分析：分析多晶材料中晶粒的取向分布。
薄膜分析：測定薄膜厚度和界面結構，分析薄膜中的應力狀態(tài)。
納米結構研究：研究材料中的納米級結構，如孔隙和顆粒。
動態(tài)相變觀察：實時觀察材料在溫度或壓力變化下的相變過程。
非晶態(tài)材料分析：研究非晶態(tài)材料的短程有序結構。
桌面式X射線衍射儀憑借其小型化、高精度和多功能特點，已成為材料科學、地質等領域重要的分析工具。
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