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蘇州浪聲科學(xué)儀器有限公司

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SuperSEM在藥品檢測(cè)中的創(chuàng)新應(yīng)用

閱讀:48      發(fā)布時(shí)間:2025-6-13
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一、引言

 

藥品質(zhì)量是保障公眾健康的核心要素,其微觀結(jié)構(gòu)與成分均勻性直接影響藥物療效與安全性。隨著《中國(guó)藥典》對(duì)藥品雜質(zhì)控制、晶型穩(wěn)定性及輔料均勻性的要求日益嚴(yán)格,傳統(tǒng)檢測(cè)手段已難以滿足高精度、多維度的分析需求。

 

蘇州浪聲科學(xué)儀器有限公司自主研發(fā)的SuperSEM桌面式多功能實(shí)時(shí)能譜掃描電鏡,通過(guò)集成SEM(掃描電子顯微鏡)與EDS(能譜分析)技術(shù),實(shí)現(xiàn)了從納米級(jí)形貌成像到元素分布的同步分析,為藥品研發(fā)與質(zhì)量控制提供了高精度、多維度的解決方案。

 

二、應(yīng)用展示

 

本文將使用SuperSEM對(duì)二甲雙胍、維生素B1及小兒氨酚黃那敏顆粒開(kāi)展微觀結(jié)構(gòu)表征,展示作為該技術(shù)在藥品領(lǐng)域的應(yīng)用。

圖片1.png

鹽酸二甲雙胍緩釋片


圖片2.png

維生素B1 


圖片3.png

小兒氨酚黃那敏顆粒



三、掃描電鏡在藥品檢測(cè)中的常見(jiàn)應(yīng)用

 

1. 原料藥晶型與表面結(jié)構(gòu)分析

  • 晶型鑒定與穩(wěn)定性評(píng)估

原料藥的晶型直接影響其溶解度、生物利用度和穩(wěn)定性。掃描電鏡可通過(guò)高分辨率成像觀察晶體的表面形貌(如顆粒大小、形狀、邊緣特征)。

  • 表面缺陷檢測(cè)

SEM可發(fā)現(xiàn)晶體表面的裂紋、孔洞或團(tuán)聚現(xiàn)象,這些缺陷可能導(dǎo)致藥物在制劑過(guò)程中溶解性下降或雜質(zhì)析出。

2. 輔料均勻性與相容性分析

  • 輔料分布均勻性評(píng)估

藥品輔料的微觀分布影響制劑的成型性和釋放性能。SEM結(jié)合背散射電子成像(BSE)或能譜分析(EDS),可區(qū)分不同密度的輔料顆粒,并量化其分布均勻性。

  • 輔料與原料藥的相容性

SEM可觀察輔料與原料藥在混合后的界面結(jié)合狀態(tài),判斷是否存在吸附、包裹或反應(yīng)現(xiàn)象,輔助優(yōu)化制劑工藝。

3. 雜質(zhì)與污染物檢測(cè)

  • 重金屬與無(wú)機(jī)雜質(zhì)識(shí)別

  • SEM-EDS聯(lián)用技術(shù)可快速定位并分析藥品中的重金屬(如鉛、鎘、汞)或其他無(wú)機(jī)雜質(zhì)。例如,在維生素B1片中檢測(cè)到鐵元素異常富集,可能源于原料或生產(chǎn)設(shè)備污染。

  • 有機(jī)污染物形貌觀察

  •  對(duì)于有機(jī)污染物(如殘留溶劑、降解產(chǎn)物),SEM可通過(guò)形貌特征(如顆粒形態(tài)、團(tuán)聚狀態(tài))輔助判斷其來(lái)源。

4. 復(fù)方制劑成分分布分析

多成分均勻性檢測(cè)

復(fù)方制劑需確保多種活性成分均勻分布。SEM-EDS的偽彩成像功能可將不同成分的元素分布轉(zhuǎn)化為直觀的偽彩色圖像,快速識(shí)別局部富集或缺失區(qū)域。例如,通過(guò)氯元素(馬來(lái)酸氯苯那敏)的分布判斷混合工藝是否達(dá)標(biāo)。

包衣層厚度與均勻性評(píng)估

SEM可高倍率觀察包衣層的表面形貌和厚度,確保藥物釋放的穩(wěn)定性。

掃描電鏡-10.jpg


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