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曉INSIGHT 鍍層分析儀使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集并匯聚成微束斑，照射在樣品位置，從而獲得良好的空間分辨率及很強(qiáng)的熒光信號，通過能譜探頭及后續(xù)的數(shù)據(jù)處理器等采集、處理并評價樣品被輻照后產(chǎn)生的熒光信號，得出樣品的成分信息。它可實現(xiàn)更復(fù)雜應(yīng)用的快速測量和精準(zhǔn)分析，是對不均勻或形狀不規(guī)則的未知樣品以及微觀物體進(jìn)行元素分析的理想方法。

曉INSIGHT 鍍層分析儀是一款上照式鍍層分析儀，具有外觀緊湊、節(jié)約空間、易于操作、分析快速、檢測精準(zhǔn)等特點，被廣泛應(yīng)用于常規(guī)和復(fù)雜鍍層結(jié)構(gòu)的樣品進(jìn)行元素分析和厚度檢測，尤其是對不均勻、不規(guī)則，甚至微小件等形態(tài)的樣品，確?？蛻臬@得可靠、可重復(fù)結(jié)果以滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括：珠寶首飾、小零件、連接器鍍層、普通電路板等。

使用優(yōu)勢

多準(zhǔn)直器

多準(zhǔn)直器可選或多種準(zhǔn)直器組合由軟件自動切換，可靈活應(yīng)對不同尺寸的零件。

一鍵式測量

配備直觀而智能的分析軟件，操作簡單，任何人無需培訓(xùn)都可以測試樣品，僅僅需要點擊“開始測試"，數(shù)十秒即可獲得檢測結(jié)果啦。

自動對焦

高低大小樣品可快速清晰對焦，視頻圖像可放大、含十字線、自動聚焦。

超大測量室

儀器殼體的開槽設(shè)計（C型槽）使得測量空間寬大，樣品放置便捷，可以測量如印刷線路板類大而平整的物品，也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。

無損檢測

X射線熒光是無損分析過程，不留任何痕跡，即使是對敏感性材料，其測量也是非常安全的。

高性能進(jìn)口探測器

選用適合于多元素鍍層的大面積Si-PIN探測器，比起傳統(tǒng)的封氣正比計數(shù)器，Si-PIN具有更佳分辨率、更低的背景噪聲（最高 S/N 比）長期穩(wěn)定性以及更長的使用壽命。

可編程自動位移樣品臺

可選配固定或電動型自動平臺，并且可編程以適應(yīng)廣泛的零件尺寸和測試量。固定樣品臺足以對易于定位檢測面積的電路板上一個或幾個位置進(jìn)行點檢。用戶可以使用固定樣品臺手動定位樣品，但是對于具有復(fù)雜設(shè)計和極小特征的電路板，在電動樣品臺上的處理效果會更好，這種樣品臺可提供更好的精確度來進(jìn)行微調(diào)。此外，INSIGHT還允許創(chuàng)建、保存和調(diào)用多點程序，以便對多個部件進(jìn)行自動化測試。可編程 XY 載物臺與內(nèi)置模式識別軟件相結(jié)合，使大容量樣品測試既高效又一致。

應(yīng)用場景

普通PCB行業(yè)

PCB表面處理工藝，常見的是熱風(fēng)整平、有機(jī)涂覆OSP、化學(xué)鍍鎳/浸金、浸銀、浸錫和電鍍鎳金等工藝。曉INSIGHT可對不同形狀的PCB鍍層厚度與成分進(jìn)行快速、高效、無損和準(zhǔn)確的分析。

珠寶首飾

電鍍工藝能起到保護(hù)首飾金屬表面的作用，又可使金屬首飾表面更加美觀。不同國家珠寶首飾電鍍標(biāo)準(zhǔn)不同，目前我國執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)為《貴金屬覆蓋層飾品電鍍通用技術(shù)條件 QB T 4188-2011》，為滿足市場質(zhì)量要求，確保符合行業(yè)規(guī)范，曉INSIGHT適用于不同形狀的珠寶首飾的單鍍層和多鍍層厚度和成分檢測。

電子元器件

鍍層技術(shù)和電子元件的發(fā)展互相協(xié)同，隨著社會發(fā)展節(jié)奏的加快，對電子元件的性能要求逐漸提高，鍍層技術(shù)也顯得尤為重要。為保證電子產(chǎn)品穩(wěn)定可靠，對電子元件的鍍層進(jìn)行檢測篩選是一個重要環(huán)節(jié)。常見的電子元件鍍層有錫-銀(Sn-Ag)鍍層、錫-鉍(Sn-Bi)鍍層、錫-銅(Sn-Cu)鍍層、預(yù)鍍鎳-鈀-金(Ni-Pd-Au)等。

通用小零件和小結(jié)構(gòu)

隨著科技的快速發(fā)展，各個行業(yè)中零件都趨于小型化，鍍層工藝作為小零件的重要表面處理方法，分為掛鍍、滾鍍、接連鍍和刷鍍等方法。

應(yīng)用場景

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