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陶瓷材料分析儀
  • 陶瓷材料分析儀
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貨物所在地:江蘇蘇州市

更新時間:2023-12-27 13:13:18

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XRF工作原理是用X射線轟擊樣品,樣品 受激發(fā)后產(chǎn)生X射線熒光。X射線通常把元素原子K層和L層的內(nèi)層電子打出原子,產(chǎn)生的空穴被高能量的外層電子填補。補充到低能量軌道上的高能量電子把多余的能量以X射線熒光輻射出來。這些輻射出來的譜線中含有各種元素的特征。像指紋一樣,并且獨立于原子的化學(xué)價態(tài)。輻射的強度與樣品中該元素的濃度成正比。

ScopeX桌面式XRF分析儀采用了先進的工業(yè)設(shè)計及人工工程學(xué)理念,精致美觀。儀器整體擁有更小的機身體積和更大的樣品倉,節(jié)約空間的同時,帶來了更高的樣品兼容性。不論是不同形態(tài)(固、液、氣、薄膜等)還是不同形狀(塊狀、片狀、線狀)的樣品,均可被準(zhǔn)確分析。適用于大規(guī)模連續(xù)分析、過程控制、產(chǎn)品質(zhì)量檢驗等環(huán)節(jié),是石油、鍍層、貴金屬、水泥、礦物、金屬材料和塑料等多種行業(yè)的理想工具。


使用優(yōu)勢

高性能配置

低能X射線搭配智能真空系統(tǒng),可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點元素進行分析。

多種準(zhǔn)直器、濾光片自動切換

5mm,3mm,1mm,0.5mm四種準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器和濾光片均可由軟件自動切換,省時省力,通過合適的準(zhǔn)直器和濾光片或無濾光片組合可提升檢測準(zhǔn)確度及靈敏度。

無損檢測

在不損害或不影響被檢測對象使用性能,不傷害被檢測對象內(nèi)部組織,整個測試過程無任何損傷。

Peltier制冷

先進Peltier電制冷方式,無需液氮,降低設(shè)備使用復(fù)雜度,節(jié)約人力和設(shè)備維護成本。

數(shù)據(jù)傳輸

USB、WIFI、無線藍(lán)牙等多種方式進行數(shù)據(jù)傳輸。

用戶自定義

文件可采用EXCEL,PDF等格式,用戶可自定義創(chuàng)建測試報告:包括公司標(biāo)志、光譜譜圖及其他樣品信息。

安全性

全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關(guān),設(shè)計更科學(xué),軟硬件配合,機電聯(lián)動,輻射安全符合國標(biāo)GB18871-2002、GBZ115-2002要求。







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