上海域晨儀器設(shè)備有限公司

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[供應(yīng)]FISCHERSCOPE® XDV®-S-菲希爾X熒光測厚儀

貨物所在地:上海上海市

產(chǎn)地:德國

更新時(shí)間:2025-01-03 21:00:07

有效期:2025年1月3日 -- 2025年7月3日

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高性能X射線熒光測試儀,配有可編程XY平臺和Z軸,可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素

特點(diǎn)

  • 高級型號儀器,具有常見的所有功能
  • 射線激發(fā)量的靈活性zui大,激發(fā)量可根據(jù)測量面積大小和光譜組成而改變
  • 通過硅漂移探測器,在 > 10萬cps(每秒計(jì)數(shù)率) 的超高信號量下也可以正常工作,而不會出現(xiàn)能量分辨率的降低
  • 極低的檢測下限和出色的測量重復(fù)度
  • 帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量設(shè)備
  • 大容量便于操作的測量艙

典型應(yīng)用領(lǐng)域

  • 測量極薄的鍍層,例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
  • 痕量分析,例如根據(jù) RoHS、玩具標(biāo)準(zhǔn)、包裝標(biāo)準(zhǔn)對有害物質(zhì)進(jìn)行檢測
  • 進(jìn)行高精度的黃金和貴金屬分析
  • 光伏產(chǎn)業(yè)
  • 測量 NiP 鍍層的厚度和成分

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