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使用涂層測厚儀時應當遵守的規(guī)定

時間:2011/12/23閱讀:2283
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使用涂層測厚儀時應當遵守的規(guī)定

  a 基體金屬特性

  對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

  對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質(zhì),應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。   

  b 基體金屬厚度

  檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,可采用3.3中的某種方法進行校準。   

  c 邊緣效應

  不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。   

  d 曲率

  不應在試件的彎曲表面上測量。   

  e 讀數(shù)次數(shù)

  通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量,表面粗造時更應如此。   

  f 表面清潔度

  測量前,應清除表面上的任何附著物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)

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