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產品簡介
探頭:(光譜響應曲線)
λ:(275~330)nm;λp=297nm
輻照度測量范圍:(0.1~199.9×103)μW/cm2
紫外帶外區(qū)雜光:小于0.05%
準確度:±10%
角度響應特性:二光照度計標準
響應時間:1秒
產品介紹
ZH7432型紫外輻照計/紫外線強度計(雙通道) | |
產品簡介: 該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。 性能指標: 波長范圍及峰值波長: 探頭:(光譜響應曲線) λ:(230~300)nm;λp=254nm 探頭:(光譜響應曲線) λ:(275~330)nm;λp=297nm 輻照度測量范圍:(0.1~199.9×103)μW/cm2 紫外帶外區(qū)雜光:小于0.05% 準確度:±10% 角度響應特性:二光照度計標準 響應時間:1秒 環(huán)境溫度:(0~40)℃; 環(huán)境濕度:<85%RH 尺 寸:180mm×80mm×36mm; 重 量:0.2kg 電 源:9V積層電池一只 |
瓶坯垂直度偏差測試儀
表面粗糙度樣板
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