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ZH7574型高精度薄膜測厚儀
ZH7574型高精度薄膜測厚儀

地:北京

貨物所在地:北京北京市

更新時間:2025/2/10 8:44:55

訪問次數(shù):294

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化:
www.zhonghuibj.com
網(wǎng)址:
www.centrwin.com

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供應(yīng)簡介


詳細介紹

高精度薄膜測厚儀 型號:ZH7574  
產(chǎn):
適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等種材料的厚度測量。
產(chǎn)品特點:
1.微電腦控制、液晶顯示
2.菜單式界面、PVC操作面板
3.接觸式測量
4.測頭自動升降
5.自動進樣
6.手動、自動雙重測量模式
7.數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計
8.顯示zui大值、zui小值、平均值和統(tǒng)計偏差
9.可設(shè)進樣步距、測量點數(shù)、進樣速度等參數(shù)
10.標準接觸面積、測量壓力(非標可選)
11.顯示zui大值、zui小值、平均值和統(tǒng)計偏差
12.標準量塊標定
13.RS232接口
14.網(wǎng)絡(luò)傳輸接口支持局域網(wǎng)數(shù)據(jù)集中管理與互聯(lián)網(wǎng)信息傳輸
指標:
測量范圍:0~2mm;0~6mm;12mm(可選)
分 辨 率:0.1μm
測量壓力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(紙張)
接觸面積:50mm2(薄膜);200mm2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種;非標可定制
進樣步距:0~1000mm
進樣速度:0.1~99.9mm/s
電    源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:461mm(L)×334mm(B)×357mm(H)
凈    重:32kg
標    準GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
標準配置:主機、標準量塊一件
選 購 件:軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼

 

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