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[報(bào)告簡(jiǎn)介]
輕敲模式Tapping AFM-IR+是AFM-IR技術(shù)（也稱為PiFM, PTE and PTIR）新檢測(cè)模式，該技術(shù)通過探測(cè)AFM微懸臂對(duì)樣品光-熱膨脹的響應(yīng)信號(hào)，實(shí)現(xiàn)樣品局域紅外吸收信號(hào)的測(cè)量。
我們將現(xiàn)場(chǎng)演示：在10 nm空間分辨率下，對(duì)聚合物復(fù)合材料的化學(xué)組分進(jìn)行納米尺度紅外成像，以及紅外光譜和高光譜測(cè)量。
您將了解到neaspec如何實(shí)現(xiàn)：
? 無機(jī)械外力干擾下和無偽影信號(hào)的紅外吸收譜測(cè)量
? 樣品無損條件下，得到的質(zhì)數(shù)據(jù)
? 無需實(shí)操經(jīng)驗(yàn)下即可獲取高質(zhì)量信號(hào)
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[主講人]
Stefan Mastel博士和Sergiu Amarie博士
[報(bào)告時(shí)間]
2020年10月15日（星期二） 11:00 PM-12:00 PM (CST)
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