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報(bào)告簡(jiǎn)介:
如何在不破壞樣品的前提下,對(duì)大尺寸石墨烯等二維材料的電學(xué)性質(zhì)進(jìn)行準(zhǔn)確快速的測(cè)量,是在提升樣品質(zhì)量并推進(jìn)其實(shí)際應(yīng)用中,亟待解決的重要問題。常規(guī)的四探針電阻測(cè)量法、原子力顯微鏡、共聚焦拉曼等表征方法存在測(cè)量尺寸小、效率低、對(duì)樣品有損傷等缺點(diǎn)而無法勝任。
在本報(bào)告中,我們將結(jié)合來自《nature》《science》等期刊的新文獻(xiàn),介紹種技術(shù),它采用非接觸式方式,快速準(zhǔn)確且高效的實(shí)現(xiàn)大尺寸石墨烯等二維材料的無損測(cè)量,得到電導(dǎo)率、電阻率、載流子和均勻性等分布信息。此方法同樣適用于其他二維材料、半導(dǎo)體薄膜、光伏薄膜的電學(xué)性質(zhì)測(cè)量。該方法已經(jīng)成功應(yīng)用在西班牙CIC nanoGUNE研究中心等著名高校和企業(yè),并且其對(duì)于石墨及其他二維材料電學(xué)測(cè)量方法已經(jīng)成為IEC(國(guó)際電工委員會(huì),是性的標(biāo)準(zhǔn)化門機(jī)構(gòu)) TS 62607-6-10:2021(E)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范[1]
1. https://webstore.iec.ch/publication/28888
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報(bào)告時(shí)間:
2021年12月02日 14:00
主講人:
弓志宏,物理學(xué)碩士,2016年畢業(yè)于北京理工大學(xué)。主要研究方向?yàn)榧す夤庾V學(xué)與技術(shù)、光與低維半導(dǎo)體納米結(jié)構(gòu)相互作用以及時(shí)間分辨發(fā)光動(dòng)力學(xué)等?,F(xiàn)擔(dān)任Quantum Design中國(guó)子公司產(chǎn)品經(jīng)理,多年來直負(fù)責(zé)低維材料光學(xué),電學(xué)物性測(cè)量設(shè)備的應(yīng)用開發(fā),技術(shù)支持和市場(chǎng)拓展。
技術(shù)線上論壇:
https://qd-china.com/zh/n/2004111065734
相關(guān)產(chǎn)品:
1.石墨烯/二維材料電學(xué)性質(zhì)非接觸快速測(cè)量系統(tǒng)-ONYX
http://true-witness.com/product/detail/33762952.html
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