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樣機(jī)體驗(yàn)!新一代X射線單晶定向系統(tǒng),60s高效測(cè)試,邀您體驗(yàn)

時(shí)間:2023-5-10閱讀:480

單晶樣品的晶體定向是單晶生長(zhǎng)之后的重要工作內(nèi)容之一。近期,日本Pulstec公司發(fā)布的新一代X射線單晶定向系統(tǒng)(型號(hào):s-Laue),采用了新型的圓形全二維面探測(cè)器技術(shù),使得設(shè)備的構(gòu)造大大簡(jiǎn)化,具有操作簡(jiǎn)單、測(cè)試效率高(典型測(cè)試時(shí)間為60秒)、占地面積小等諸多技術(shù)特色。日本Pulstec公司可提供臺(tái)式和便攜式(待發(fā)布)兩種類型的單晶定向系統(tǒng),臺(tái)式機(jī)可滿足實(shí)驗(yàn)室對(duì)小樣品進(jìn)行單晶定向的需求,便攜式設(shè)備也可以用于大型零件的現(xiàn)場(chǎng)晶體定向應(yīng)用需求。


為便于廣大客戶全面了解和親身體驗(yàn)新一代X射線單晶定向系統(tǒng)(型號(hào):s-Laue),Quantum Design中國(guó)公司引進(jìn)了s-Laue樣機(jī),目前該設(shè)備已安裝于我司實(shí)驗(yàn)室并完成調(diào)試。即日起,我們歡迎對(duì)該設(shè)備感興趣的老師和同學(xué)來(lái)樣、來(lái)訪,我們?cè)赒D中國(guó)樣機(jī)實(shí)驗(yàn)室恭候大家的到來(lái)!






應(yīng)用案例:



Al2O3單晶樣品獲得的勞厄斑點(diǎn)



Si單晶樣品獲得的勞厄斑點(diǎn)



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